[发明专利]用于电子装置测试的对准系统

说明书

技术领域

本发明涉及电子装置测试的领域，且更特定来说，涉及一种用于相对于测试站对准一个或一个以上受测试电子装置的对准系统。

背景技术

在制造期间通过自动化测试系统来测试许多电子装置的电及光学性质。典型自动测试系统使用精密电或光学测试设备来找出与装置的电及光学性质相关联的值，且依据所测量的值而接受、废弃所述装置或将其分类到输出类别中。针对微型装置，自动测试系统经常经设计以处置大批负载，其中制造工艺形成具有例如大小及形状的实质上相同的机械特性但电或光学特性不同的大量装置。建造具有大体上归属于一范围内的电及光学性质的大量装置且依赖于测试将所述装置分类为具有类似特性的商业上有用的群组为常见惯例。

经常将这些装置供应到作为填充有装置的容器的测试设备。通常，测试设备必须从大批装置负载中抽取单个装置、定向所述装置且固定所述装置，因此测试设备可执行所要测试。测试经常需要探测所述装置，其中使电引线与装置接触以准许将信号及电力施加到所述装置且监视对输入的响应。其它测试涉及响应于特定输入而测量从例如LED的光学装置输出的光。自动测试系统的任务是确定装置的电或光学特性且依据那些特性将所述装置分类为若干群组。

发明内容

本文中教示用于电子装置测试的对准系统的实施例。

本文中所教示的一个对准系统经调适以相对于测试站对准一个或一个以上受测试装置。所述对准系统包含：载具，其经配置以载运受测试装置；及传送器，其经配置以使所述载具与所述传送器一致地移动。对准结构可与所述载具啮合以使所述载具相对于所述传送器移动以相对于所述测试站对准所述受测试装置中的至少一者。

下文中详细描述此实施例的变化形式及其它实施例。

附图说明

本文中的描述参考附图，其中在所有数个视图中相似参考编号指代相似部件，且其中：

图1是展示自动化测试系统的一个实施例的俯视图；

图2是图1的自动化测试系统的载具的一个实施例的透视图；

图3是展示图2的载具及图1的自动化测试系统的传送器的横截面端视图；

图4是展示图2的载具及图3的传送器的夹板的侧视图；

图5是展示相对于图1的自动化测试系统的测试站对准电子装置的图解说明；

图6是图1的自动化测试系统的对准结构的一个实施例的透视图；

图7是图6的对准结构的正视图；

图8是图6的对准结构的侧视图；

图9是图1的自动化测试系统的第一替代对准结构的透视图；

图10是展示图9的第一替代对准结构的对准轨道的透视图；

图11是展示图1的自动化测试系统的第二替代对准结构及解耦结构的横截面侧视图；

图12是展示图1的自动化测试系统的第三替代对准结构的横截面侧视图；且

图13是展示图1的自动化试系统的第四替代对准结构的端视图。

具体实施方式

尽管已知用于电子组件或装置的自动化测试系统，但关于LED来说现有系统通常并不有用。测试及分类LED尤其富有挑战性，这是因为制造公差的广泛变化与人眼对光输出的小变化的敏感性组合而需要测试LED且将其分类为大量输出群组。尽管无源电子装置可通常需要五或十个输出类别，但LED通常可需要超过32个输出类别直到多达512个类别。与测试及分类LED相关联的其它挑战包含需要测试LED的光输出的事实。由于LED可具有在封装的一侧上的触点及在另一侧上的发光表面，因此测试设备必须从一侧探测且从另一侧收集光输出。另一挑战是光输出测试设备经常在物理上是大的且需要接近受测试的LED，此约束测试设备的物理布局。另外，如果将执行其中多个测试站经布置以同时测试多个装置的并行测试，那么需要布置用于多个庞大的光学测试站的空间。

由电子装置测试系统实现的吞吐量取决于测试电子装置所需的时间以及在连续测试之间的时间。在完成测试之后，使新电子装置与测试工作站处的测试系统对齐。如果使所述新装置与所述测试系统对齐所需的时间减少，那么会增加吞吐量。然而，为了允许探测所述电子装置且允许监视所述装置的响应，必须相对于所述测试系统准确地对准所述电子装置。由于LED的许多测试要求，这些问题对于所述LED来说加剧。

如关于图1开始描述，本文中所教示的用于测试及分类微型电子装置11(图2)的自动化测试系统10的实施例提供优化对准以便增加吞吐量的方式。对于例如涉及众多测试的发光二极管(LED)的装置11，此尤其是合意的。