[发明专利]充电构件、处理盒和电子照相设备在审

专利信息
申请号: 201280012404.1 申请日: 2012-03-07
公开(公告)号: CN103430106A 公开(公告)日: 2013-12-04
发明(设计)人: 谷口智士;儿玉真隆;青山雄彦 申请(专利权)人: 佳能株式会社
主分类号: G03G15/02 分类号: G03G15/02
代理公司: 北京魏启学律师事务所 11398 代理人: 魏启学
地址: 日本东京都大*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 充电 构件 处理 电子 照相 设备
【说明书】:

技术领域

本发明涉及一种充电构件以及使用其的处理盒和电子照相设备。

背景技术

在电子照相设备中,为了稳定地向鼓形的电子照相感光构件(下文简称为感光构件)静电充电,通常将处于将其叠加到直流电压上的状态的交流电压施加至与电子照相感光构件接触的充电构件。作为此类充电系统中的一个问题,出现由存在于感光构件与充电构件之间的共振引起的振动噪声。

为了应对该问题,如在专利文献1中公开的,提出一种方法,其中使用具有在其下不会出现由于施加的交流电压的频率引起的共振的固有振动频率的充电构件,从而防止发生振动噪声。目前,近年来,随着对电子照相设备的更高图像品质和更高处理速度的需求,已经开始将高频例如约3000Hz的交流电压施加至充电构件。感光构件也以高速度旋转,驱动感光构件的马达自身也随着该旋转而振动,并且传递该马达的驱动力的齿轮等也振动。这样的振动不仅引起充电噪声,还会使与感光构件接触的充电构件振动,使得很难稳定地将感光构件充电到规定电位,并且结果是有时会降低电子照相图像的等级。在这样的情况下,本发明人已经认识到,必须开发可以更可靠地减少充电构件的振动的技术。

引文列表

专利文献

专利文献1:日本专利申请特开2004-279578。

非专利文献

非专利文献1:Shinji Yamada的“Learned Person from Today Series,Thoroughly Plain Book on Vibration & Noise”,第一版,The Nikkan Kogyo Simbun,Ltd.,2007年3月5日,第24-25页。

非专利文献2:Haruhiko Tohara和其他10名共同作者的“Rubber Vibration Insulators,New Edition”,新版,The Japan Association of Rolling Stock Industries,1998年10月30日,第97-99页。

发明内容

发明要解决的问题

因此,本发明旨在提供如下的充电构件:即使在向其施加高频交流电压的情况下,其也不会容易地引起振动并且也能够稳定地将感光构件静电充电。

本发明还旨在提供能够稳定地形成高级电子照相图像的处理盒和感光构件。

用于解决问题的方案

根据本发明的一个方面,提供具有导电性基体、导电性弹性层和表面层的充电构件;弹性层从基体侧依次具有第一橡胶层和层压至第一橡胶层的第二橡胶层,其中当第一橡胶层的固有振动频率由f1表示,和第二橡胶层的固有振动频率由f2表示时,其具有2.35以上且10.0以下的固有振动频率比f2/f1。

根据本发明的另一方面,提供具有一体化连接的上述充电构件和感光构件的处理盒,并将其构成为可拆卸地安装到电子照相设备主体上。

根据本发明的又一方面,提供具有上述充电构件和感光构件的电子照相设备。

发明的效果

根据本发明,可以获得如下的充电构件:即使在向其施加高频交流电压的情况下,其也不会容易地引起振动并且能够稳定地将感光构件静电充电。

根据本发明,还可以获得有助于形成高级电子照相图像的处理盒。根据本发明,可以进一步获得能够形成高级电子照相图像的电子照相设备。

附图说明

图1是显示根据本发明充电构件一个实例的侧面图。

图2是显示根据本发明充电构件另一个实例的侧面图。

图3A说明如何测量根据本发明充电构件的弹性模量。

图3B说明如何测量根据本发明充电构件的弹性模量。

图4A说明如何测量根据本发明充电构件的电阻。

图4B说明如何测量根据本发明充电构件的电阻。

图5是显示根据本发明电子照相设备一个实例的示意性结构图。

图6是显示根据本发明处理盒一个实例的示意性结构图。

图7是显示用于制备根据本发明充电构件的设备的一个实例的示意性结构图。

图8A说明如何测量充电构件的弹性层的比重。

图8B说明如何测量充电构件的弹性层的比重。

图9说明如何评价充电构件的耐久性。

图10说明如何测量在充电构件中引起的振动。

具体实施方式

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