[发明专利]放射线检测系统、生成方法以及生成装置有效

专利信息
申请号: 201280003401.1 申请日: 2012-12-28
公开(公告)号: CN103282794A 公开(公告)日: 2013-09-04
发明(设计)人: 肯特·布尔;王晋中 申请(专利权)人: 株式会社东芝;东芝医疗系统株式会社
主分类号: G01T1/161 分类号: G01T1/161
代理公司: 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 代理人: 舒艳君;李洋
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 放射线 检测 系统 生成 方法 以及 装置
【权利要求书】:

1.一种放射线检测系统,其特征在于,具备:

检测器,其具有多个光传感器;

模拟数字转换电路,其与上述多个光传感器连接,对上述多个光传感器输出的模拟信号组进行数字化处理,来生成与该模拟信号组对应的数字信号组;以及

处理部,其通过在各数字信号的前沿被施加了最重的加权的状态下应用对原型波形中不同的时间分配可变的重要度的加权函数,来将上述数字信号组分别拟合成上述原型波形,从而确定上述数字信号组各自的到达时间以及振幅,

上述处理部通过生成处理来确定上述原型波形以及上述加权函数,其中,上述生成处理包含对初始原型波形以及初始加权函数进行参数化处理,由校准过程对上述初始原型波形以及上述初始加权函数的参数进行优化的处理。

2.根据权利要求1所述的放射线检测系统,其特征在于,

上述原型波形以及上述加权函数均在执行上述生成处理的过程中根据经验被确定。

3.根据权利要求1所述的放射线检测系统,其特征在于,

上述加权函数根据上述模拟数字转换电路的采样频率以及上述放射线检测系统内的噪音来变更。

4.根据权利要求2所述的放射线检测系统,其特征在于,

上述原型波形根据深度方向的相互作用位置而不同。

5.根据权利要求2所述的放射线检测系统,其特征在于,

上述原型波形根据晶体位置而不同。

6.根据权利要求2所述的放射线检测系统,其特征在于,

上述原型波形根据深度方向的相互作用位置以及晶体位置而不同。

7.一种生成方法,其特征在于,包括:

取得步骤,取得由具有至少1个光传感器的检测器生成的多个波形;

生成步骤,生成针对原型波形以及加权函数的初始推定,使用一套参数来对该原型波形以及该加权函数进行参数化处理;

最优确定步骤,针对通过上述取得步骤取得的多个波形,分别确定上述原型波形的最优振幅以及最优时间偏移;

对形成步骤,基于由上述最优确定步骤确定的上述多个波形各自的时间偏移,根据上述多个波形来形成波形对;

计算步骤,计算由上述对形成步骤形成的各波形对的到达时间差,基于计算出的各波形对的到达时间差来确定定时分辨率值;

确定步骤,确定由上述计算步骤确定的定时分辨率值是否满足规定的最小化基准;以及

更新步骤,当上述定时分辨率值不满足上述规定的最小化基准时,更新针对上述原型波形以及上述加权函数的上述一套参数,反复进行基于上述最优确定步骤的确定处理、基于上述对形成步骤的波形对形成处理、基于上述计算步骤的计算处理以及基于上述确定步骤的确定处理。

8.根据权利要求7所述的生成方法,其特征在于,

上述最优确定步骤还具备:

第2生成步骤,针对作为上述多个波形的处理对象的第1波形,生成针对上述原型波形的初始振幅以及初始时间偏移的初始推定;

插补步骤,为了在上述第1波形的时基上确定上述原型波形以及上述加权函数,使用上述初始时间偏移的初始推定来进行上述原型波形以及上述加权函数的插补处理;

第2计算步骤,使用针对由上述第2生成步骤生成的振幅以及时间偏移的初始推定、在上述第1波形的时基上确定的原型波形及加权函数以及上述第1波形,来计算惩罚函数值;

第2确定步骤,根据上述惩罚函数值的计算结果,来确定惩罚最小化基准是否被满足;

第3生成步骤,当由上述第2确定步骤确定为上述惩罚最小化基准未被满足时,针对上述第1波形,生成针对上述原型波形的振幅以及时间偏移的新的推定,反复进行基于上述插补步骤的插补处理、基于上述第2计算步骤的计算处理以及基于上述第2确定步骤的确定处理;以及

输出步骤,针对上述第1波形,输出针对上述原型波形的上述振幅以及上述时间偏移的最终值。

9.根据权利要求8所述的生成方法,其特征在于,

基于上述最优确定步骤的优化处理包含为了生成上述多个波形各自的最优时间偏移以及最优振幅,而针对上述多个波形,分别反复进行上述原型波形的优化处理以及上述加权函数的优化处理的处理。

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