[实用新型]一种移动式反镜像法半铁心漏磁实验装置有效

专利信息
申请号: 201220732129.8 申请日: 2012-12-27
公开(公告)号: CN202995015U 公开(公告)日: 2013-06-12
发明(设计)人: 刘兰荣;张俊杰;车福来;侯建江;刘玉龙;刘涛;李杰 申请(专利权)人: 保定天威集团有限公司
主分类号: G01R33/12 分类号: G01R33/12;G01R27/26
代理公司: 唐山顺诚专利事务所 13106 代理人: 于文顺;晏春红
地址: 071051 河北省*** 国省代码: 河北;13
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摘要:
搜索关键词: 一种 移动式 反镜像法半 铁心 实验 装置
【说明书】:

技术领域

实用新型涉及一种移动式反镜像法半铁心漏磁实验装置,属于电磁场工程技术应用设备技术领域。

背景技术

在实际应用中,需要对水平和垂直两种油箱磁屏蔽结构的磁性能进行实验对比,研究不同磁屏蔽结构的性能,不仅是定性地分析,而且是定量地做出结论,以确定在大容量产品上是否普遍应用,而在变压器产品上直接测量时会遇到难以解决的高电压、油全封闭、结构大尺寸等带来的测量困难。

实用新型内容

本实用新型目的是提供一种移动式反镜像法半铁心漏磁实验装置,通过采用双铁心反镜像法,可将被试品的损耗分离,有利于研究不同种导磁材料及其组合结构的电磁、损耗性能,解决背景技术中存在的上述问题。

本实用新型的技术方案是:一种移动式反镜像法半铁心漏磁实验装置,包含试品支架、移动铁心支架、固定铁心支架、轨道底板和铁心线圈一体结构,所述试品支架和移动铁心支架分别通过其下部的直线凹槽轨道可移动地设置在轨道底板上,铁心线圈一体结构有两个,分别设置在移动铁心支架和固定铁心支架上。

还包含定位板,所述定位板设置在固定铁心支架的一侧。

所述两个铁心线圈一体结构互相对称,二者之间的距离小于50毫米。

所述试品支架上承载的被试品由垂直和平行两种结构的磁屏蔽和钢板组成。

所述试品支架和移动铁心支架的下部为直线凹槽轨道结构,二者通过所述直线凹槽轨道结构可移动地设置在轨道底板上。

本实用新型的有益效果是:通过采用双铁心反镜像法,可将被试品的损耗分离。有利于研究不同种导磁材料及其组合结构的电磁、损耗性能。采用移动的铁心线圈和移动支架,便于空载、负载实验的转换实现,节省时间和人力。结构件水平放置,便于调整位置。

附图说明

图1是本实用新型的示意图;

图2是本实用新型的空载模型示意图;

图3是本实用新型的负载模型示意图;

图中:试品支架1、移动铁心支架2、固定铁心支架3、轨道底板4、铁心线圈一体结构5、定位板6。

具体实施方式

以下结合附图,通过实施例对本实用新型做进一步说明。

一种移动式反镜像法半铁心漏磁实验装置,包含试品支架1、移动铁心支架2、固定铁心支架3、轨道底板4和铁心线圈一体结构5,所述试品支架1和移动铁心支架2可移动地设置在轨道底板4上,铁心线圈一体结构5有两个,分别设置在移动铁心支架2和固定铁心支架3上。

还包含定位板6,所述定位板6设置在固定铁心支架3的一侧,确保移动铁心支架2到达的位置,正好使上下两个铁心达到对称位置。

所述两个铁心线圈一体结构5互相对称,二者之间的距离小于50毫米,结构更加紧凑,可在对称面达到1800GS级以上的强漏磁场,是有效的漏磁场发生装置,可以进行其他类似结构和模型的测试。

所述试品支架上承载的被试品由垂直和平行两种结构的磁屏蔽和钢板组成,都是按照现有典型产品结构设计,是产品级的被试品。

所述试品支架和移动铁心支架的下部为直线凹槽轨道结构,二者通过所述直线凹槽轨道结构可移动地设置在轨道底板上。

在实验过程中,以开放磁回路的铁心(只比线圈长一点儿,在线圈内部与线圈固定为一体)线圈的结构作为基础,制造成固定与移动式结合的结构。采用带有铁心的激励线圈产生强磁场可得到与大容量、特大容量的大型电力变压器、电抗器等电磁产品内部相当的漏磁场。并且可在一定范围内作为电磁产品通用磁场发生器,被试品可以是任何导磁材料,可更广泛的用于实验室内的实验和仿真对比。

一个固定式半铁心线圈与一个移动式半铁心线圈形成同向闭合磁路,模拟变压器无油箱和屏蔽的状态,简称空载。两侧线圈施加反向电流,形成同向、两个铁心内闭合的磁路,测量得到空载损耗Pk。试品支架距离通电的线圈700mm以上,降低屏蔽及钢板(铁磁物质)对半铁心闭合磁路的漏磁影响降低到 1%以下。定位板6确保移动铁心支架到达的位置,正好使上下两个铁心达到对称位置。

一个固定式半铁心线圈与移动铁心支架支撑的屏蔽和钢板模拟变压器包含油箱和屏蔽的状态,简称负载。固定式线圈施加电流,漏磁进入屏蔽及钢板,测量得到负载损耗Pn。移动式铁心线圈距离负载铁心线圈700mm以上,降低屏蔽及钢板(铁磁物质)对半铁心闭合磁路的漏磁影响降低到 1%以下。

采用反镜像法,其半结构可以模拟可有效去除系统损耗,从而分离出被试品的损耗,即Ps=Pn-0.5Pk 。

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