[实用新型]用于去除LVDS信号的展频的系统有效
申请号: | 201220713049.8 | 申请日: | 2012-12-20 |
公开(公告)号: | CN203276789U | 公开(公告)日: | 2013-11-06 |
发明(设计)人: | 邱永刚 | 申请(专利权)人: | 广州视源电子科技股份有限公司 |
主分类号: | G09G3/20 | 分类号: | G09G3/20;G09G3/00 |
代理公司: | 广州三环专利代理有限公司 44202 | 代理人: | 郝传鑫 |
地址: | 510663 广东省广州市高*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 用于 去除 lvds 信号 系统 | ||
技术领域
本实用新型涉及电子设备领域,尤其涉及一种用于去除LVDS信号的展频的系统。
背景技术
在电子设备领域中,本技术领域的人员都了解,当一个电子系统在某单一频率下工作时,由于在这一频率的能量很高,因此就会产生在这一频率下的很强的电磁脉冲干扰(Electromagnetic Interference,简称EMI)。这种电磁干扰会对其他电子设备,或人体产生影响。目前对电子产品,尤其是对消费类电子设备,都有很严格的EMI量化规定,以减少EMI。目前对于减小EMI的基本方法是通过时钟或信号的展频(spreading spectrum)以减小特定频率的能量。例如,对于LVDS信号发送系统,将LVDS信号通过时钟或信号的展频后才发送。
但是对于LVDS信号接收系统来说,由于时钟及整个数字信号的频率都被展宽,其电路必须经过有额外的很大开销才能满足系统要求,如更大的存储系统,更严格的时序要求等。而且对于有些系统在减小EMI的同时又要求信号抖动很小,这就要求在特定的系统中要对前端的展频信号进行去除展频或至少能够兼容展频后得信号、时钟。
在现有解决方案中,主要是通过加大存储容量来实现对展频后的带宽变化的容忍的。这种方法只是解决了数据接收的完整性,并不能解决在一些系统中对时钟和信号的抖动有很高要求的问题,也就是说现有的方法不能从根本上去除LVDS信号的展频的特性。而且,由于现有技术没能够有效的去除LVDS信号的展频,市场上的信号采集卡对具有展频的LVDS信号无法进行正确的采集。
实用新型内容
本实用新型的多个方面提供一种用于去除LVDS信号的展频的系统,能够去除LVDS信号的展频,从而使普通的DVI信号采集卡能够用于LVDS信号的采集和测试。
本实用新型的一个方面提供了一种用于去除LVDS信号的展频的系统,包括:
输入LVDS信号采集模块,用于采集输入的带展频的LVDS信号,并将采集到的LVDS信号分离成时钟信号、同步信号以及数据信号;其中,所述时钟信号为像素时钟信号,所述数据信号为RGB数据信号,所述同步信号至少包括有效显示数据选通信号;
第一锁相环,用于接收并调频锁定所述LVDS信号采集模块分离出的时钟信号;
时钟检测模块,用于接收所述LVDS信号采集模块分离出的同步信号以提取有效数据信息,并且用于检测被第一锁相环锁定后的时钟信号的频率及抖动范围;
控制处理器,用于接收所述时钟检测模块发送的关于同步信号的有效数据信息以及关于时钟信号的频率及抖动范围的检测结果,并基于所述有效数据信息和时钟信号抖动范围控制FIFO缓冲器传输数据,以及基于所述时钟信号的频率和抖动范围并根据帧同步的原则计算出所需还原的恢复时钟信号,并将带计算结果的控制信号发送给第二锁相环;
FIFO缓冲器,分别与所述LVDS信号采集模块和控制处理器连接,用于在所述控制处理器的控制下,传输所述LVDS信号采集模块分离出的数据信号;
第二锁相环,用于接收并锁定由晶振生成的不带展频特征的本地时钟信号,并根据所述控制处理器发送的控制信号进行频率调整而形成稳定的恢复时钟信号;
输出LVDS信号合成模块,用于将数据信号、同步信号以及第二锁相环发送的恢复时钟信号合成不带展频的LVDS信号以输出。
本实用新型公开的用于去除LVDS信号的展频的系统,能够有效去除LVDS信号的展频,使普通的DVI采集卡也能采集到图像,从而使普通的DVI信号采集卡能够用于LVDS信号的采集和测试。
附图说明
图1是本实用新型实施例中一种用于去除LVDS信号的展频的系统的结构示意图。
具体实施方式
下面将结合本实用新型实施例中的附图,对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例,本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本实用新型保护的范围。
本实用新型实施例还提供一种用于去除LVDS信号的展频的系统,能够有效去除LVDS信号的展频,使普通的DVI采集卡也能采集到图像,从而使普通的DVI信号采集卡能够用于LVDS信号的采集和测试。
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