[实用新型]用于测试的flash板有效
申请号: | 201220700368.5 | 申请日: | 2012-12-17 |
公开(公告)号: | CN203026141U | 公开(公告)日: | 2013-06-26 |
发明(设计)人: | 范宣荣;陆崇心;董世永;陈起伦 | 申请(专利权)人: | 山东华芯半导体有限公司 |
主分类号: | G11C29/56 | 分类号: | G11C29/56 |
代理公司: | 济南泉城专利商标事务所 37218 | 代理人: | 丁修亭 |
地址: | 250101 山东省济南市历下区(*** | 国省代码: | 山东;37 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 用于 测试 flash | ||
技术领域
本实用新型涉及一种用于测试flash芯片的装置。
背景技术
随着当前移动存储技术的快速发展和移动存储市场的高速扩大,flash型存储器的用量也在迅速增长。市场的需求催生出了一大批的falsh芯片的研发、生产和应用的企业。为了保证芯片长期可靠的工作,需要对量产的流片的芯片或者量产的芯片进行测试。由于当前flash的产量巨大,高效的flash存储器/芯片的测试十分必要。
存储器芯片的测试不是简单的注意测试一遍那么简单,之前的测试由于flash芯片数量比较少,都是在主板上焊接flash芯片进行测试,不仅效率低下,而且操作起来非常麻烦,对主板也会产生不良影响。
发明内容
有鉴于此,本实用新型的目的在于开发独立的板卡,以用于高效的进行flash芯片的测试。
本实用新型采用的技术方案为:
一种用于测试的flash板,包括板体和阵列在板体上flash芯片,以及设置在板体边缘并连接所述flash芯片以用于与上位机连接的接口,其中接口含有用于选择flash芯片的针脚。
从上述技术方案可以看出,依据本实用新型,基于独立开发的板卡,通过接口连接于上位机,从而降低频繁更换待测试flash芯片对主板的影响。由于一块板卡可以在有多片flash,从而可以大幅的提高测试效率。加之可以同时载于板卡上的几种不同的flash芯片,可以进行相互间的兼容性测试。
上述用于测试的flash板,所述接口为CN总线接口,相应地,所述flash芯片通过CN总线与CN总线接口相连。
上述用于测试的flash板,其特征在于,所述flash芯片有偶数个,且两两属于一个通道。
上述用于测试的flash板,所述flash芯片通过插座或者焊接盘连接于所述板体上。
附图说明
图1为依据本实用新型的一种用于测试的flash板的结构原理图。
具体实施方式
参照说明附图1,其左端表示与上位机的接头,上下边缘的线表示信号线、数据线以及控制线,中间的横线表示总线,中线横线两侧的方块表示flash芯片。
一种用于测试的flash板,其包括板体和阵列在板体上flash芯片,以及设置在板体边缘并连接所述flash芯片以用于与上位机连接的接口,其中接口含有用于选择flash芯片的针脚。
其中板体采用PCB(Printed Circuit Board,印制电路板),结构紧凑,所形成的板卡适应性更好。
图1左端的接头用作与上位机连接的接口,为拔插接结构,相比于焊接结构,更换更快,效率更高,对主板的影响更小。同时,一块板卡如图1,根据预定的通道数,可以扩展到匹配的数目,如图1所示的4个通道(chanel)的8颗flash芯片的安装座(socket,也可以理解为插槽)。
为了简化结构,所述接口为CN总线接口,这种接口与接线比较少的flash相匹配,结构比较简单,方便布线,相应地,所述flash芯片通过CN总线与CN总线接口相连。
如图1所示,所述flash芯片有偶数个,且两两属于一个通道。为了进一步节省空间,可以双面设置flash的socket。
优选地,匹配多种应用,所述flash芯片通过插座或者焊接盘连接于所述板体上。
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