[实用新型]一种LED加速老化测试仪

说明书

技术领域

本实用新型涉及一种LED测试仪器，特别是一种LED老化测试仪。

背景技术

在LED生产企业，需要采用LED加速老化测试仪对产品进行老化试验测试，测试的时候，首先将LED芯片固定在测试架上，然后将测试架置于-40℃到+150℃环境中进行加速老化测试，现有的测试架边框及支撑脚为塑料或塑胶件，测试时在加速LED老化的同时，也在加速测试架的老化，致使测试架产生形变及材料老化，使用寿命较短。 

实用新型内容

为了克服现有技术的不足，本实用新型提供一种使用寿命长、LED芯片固定方便、可靠的LED加速老化测试仪。

本实用新型解决其技术问题所采用的技术方案是：

一种LED加速老化测试仪，包括测试架，所述测试架包括由金属材料制成的边框，所述边框内安装有PCB板，所述PCB板上设置有用于固定LED芯片的固定结构。

作为本实用新型的进一步改进，所述边框由铝合金材料制成。

所述边框的内壁设置有台阶，所述PCB板下侧的周边贴在所述台阶的上侧面上。

所述边框的下侧安装有底板。

所述底板顶面的周边贴在所述台阶的下侧面上。

所述底板的下侧面上连接有由硅胶材料制成的支撑脚。

所述固定结构为矩阵式排列的弹簧顶针。

所述固定结构为矩阵式排列的夹子。

本实用新型的有益效果是：本实用新型的边框由金属材料制成，金属边框使用寿命长，不会变形，边框内安装有PCB板，PCB板上排列有用于固定LED芯片的固定结构，该固定结构为矩阵式排列的弹簧顶针或夹子，LED芯片固定方便、可靠，在边框的底部设置有由硅胶材料制成的支撑脚，能够将测试架层叠堆码，放置方便，具有结构简单、使用寿命长等优点。

附图说明

下面结合附图和实施例对本实用新型进一步说明。

图1是测试架的第一种实施方式结构示意图；

图2是图1所示测试架结构分解示意图；

图3是边框的截面图；

图4是测试架的第二种实施方式结构示意图。

具体实施方式

参照图1至图4，一种LED加速老化测试仪，包括测试架，所述测试架包括由金属材料制成的边框1，在本实施例中，边框1由铝合金材料制成，铝合金材料质量轻，强度大，可以满足各种环境测试的要求。所述边框1内安装有PCB板2，所述PCB板2上设置有用于固定LED芯片的固定结构，边框的下侧安装有底板6，所述底板6的下侧面上连接有支撑脚4，支撑脚4由硅胶材料制成，具有耐高温、耐低温等优点，该支撑脚4也可以直接固定在边框的底部。

所述边框1的内壁设置有台阶7，所述PCB板2下侧的周边贴在所述台阶7的上侧面上，并通过螺丝5将PCB板2固定在台阶7上，这样，一方面便于固定PCB板，另一方面，PCB板2的表面低于边框1的表面，适合层贴放置。所述底板6顶面的周边贴在所述台阶7的下侧面上，并通过螺丝将底板6固定在台阶7上。

固定结构根据不用的测试对象有不同的结构，比如测试带插脚的LED芯片，则固定结构为与LED芯片的插脚对应的插接孔，如测试体积较小的LED芯片，则适宜采用矩阵式排列的弹簧顶针3（如图1、图2所示），如测试体积较大的LED芯片，则适宜采用矩阵式排列的夹子8（如图4所示）。