[实用新型]一种定制化电子产品的FCT/ICT综合测试装置有效
申请号: | 201220605640.1 | 申请日: | 2012-11-16 |
公开(公告)号: | CN203037754U | 公开(公告)日: | 2013-07-03 |
发明(设计)人: | 陈飞;黄菲;李二文 | 申请(专利权)人: | 苏州工业园区世纪福科技有限公司 |
主分类号: | G01R31/00 | 分类号: | G01R31/00;G01R27/14 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 215121 江苏省苏*** | 国省代码: | 江苏;32 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 定制 电子产品 fct ict 综合测试 装置 | ||
技术领域
本实用新型涉及电子产品的生产测试技术,尤其涉及一种定制化电子产品的FCT/ICT综合测试装置。
背景技术
任何电子产品在应用之前都会经过测试,所以无论是电子成品、独立电子模块部件、还是PCBA(Printed Circuit Board+Assembly的简称)半成品都涉及到测试方面的工作。当今电子产品的生产测试主要分为两个部分:ICT测试(In Circuit Test,在线测试),主要检查电子元器件是否正确安装;FCT测试(Function Circuit Test,功能测试),即令测试目标板工作于设计状态,从而获取输出,验证测试目标板的工作状态。
当今传统和主流的ICT测试方法是利用通用型ICT测试机,对目标测试板进行在线I-V测试,即对单个元器件,采取电压激励,电流测量以及旁路保护(Guarding)的原理进行逐个的阻抗检查,从而判断单个元器件是否安装正确。通用型ICT测试机的阻抗测试拓扑结构图如图1所示,其中:DUT为测试目标,Zx为测试目标的阻抗,Vx为测试激励电压,Ix为激励电流,Rr为电流采用电阻,Ir为采样电流,放大器将DUT的low端强制拉低,保证Ir=Ix,Vr为实测电压,因此:
从而:
采用通用型ICT测试机进行测试的优点是机台通用,运行稳定可靠;缺点是对较小型的目标测试板,浪费了资源,并且通用型ICT测试机设备庞大、价格昂贵,同时逐个测量目标测试板上的器件非常费时,这大大增加了电路板生产测试的成本,对于当今消费类电子产品日新月异、设计生产测试周期不断变短、成本不断压低的现状,是不合时宜的。
当今传统和主流的FCT测试方法则大多基于定制化,采用工业计算机和各种仪表组成测试机台构成硬件部分,使用相关软件(比如NI公司的Labview软件)进行程序开发构成软件部分。虽然传统仪表功能齐全,但是价格高昂,并且生产测试中只能用到其中一小部分功能,二次使用的效率不高;同时硬件部分体积庞大,不利于测试的自动化。
发明内容
发明目的:为了克服现有技术中存在的不足,本实用新型提供一种定制化电子产品的FCT/ICT综合测试装置,综合FCT测试和ICT测试,降低测试的成本、提高测试的灵活性。
技术方案:为解决上述技术问题,本实用新型采用的技术方案为:
一种定制化电子产品的FCT/ICT综合测试装置,包括嵌入式控制平台、ICT测试单元、继电器阵列控制模块、用户定制数字模拟I/O继电器隔离模块和夹具接口,
所述嵌入式控制平台用于输入控制信号,并将控制信号发送给ICT测试单元或用户定制数字模拟I/O继电器隔离模块;
所述继电器阵列控制模块和用户定制数字模拟I/O继电器隔离模块与夹具接口的对应输入端子电路连接;
所述夹具接口用于夹持测试目标;
所述ICT测试单元通过继电器阵列控制模块、夹具接口实现与测试目标的电路连接,对测试目标进行ICT测试,并将测试结果反馈给嵌入式控制平台;
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于苏州工业园区世纪福科技有限公司,未经苏州工业园区世纪福科技有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201220605640.1/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。