[实用新型]外圈深滚道的简易校对装置有效
申请号: | 201220547778.0 | 申请日: | 2012-10-24 |
公开(公告)号: | CN202947721U | 公开(公告)日: | 2013-05-22 |
发明(设计)人: | 张娟娟;王蔚霞;曾莉;左菲 | 申请(专利权)人: | 洛阳轴研科技股份有限公司 |
主分类号: | G01B21/20 | 分类号: | G01B21/20 |
代理公司: | 洛阳市凯旋专利事务所 41112 | 代理人: | 符继超 |
地址: | 471039 河*** | 国省代码: | 河南;41 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 外圈 滚道 简易 校对 装置 | ||
技术领域
本实用新型属于轴承检测技术领域,尤其是一种外圈深滚道的简易校对装置。
背景技术
在轴承的生产加工中,外圈的滚道加工是不可缺少的一道工序,在滚道加工后常常要使用专用仪器测量来校对所加工滚道是否符合设计要求。
对于滚道较深的外圈,专用仪器常常伸不到滚道的底部,校对起来非常不便。
发明内容
为解决上述问题,本实用新型设计了一种外圈深滚道的简易校对装置,该简易校对装置制作简单,只要更换测头就能快速校对不同深度的外圈滚道,同批量校对时间得到缩短,提高了校对效率。
为了实现上述发明目的,本实用新型采用如下技术方案:
一种外圈深滚道的简易校对装置,包括测台和测头,被测外圈的设计滚道形状已确定,测台由底座和支撑体构成,所述支撑体配置在所述底座的一端并形成倒L状,在所述支撑体上端联接测头,测头分为联接段和校对段,其中所述校对段的水平中心线与所述底座的上平面保持平行,其中所述联接段用于联接所述支撑体,所述校对段的水平中心线距所述底座的上平面之间距等于被测外圈宽度的1/2。
上述所述校对段与被测外圈的设计滚道形状相匹配。
由于采用如上所述技术方案,本实用新型产生如下效果:
1、本实用新型的简易校对装置制作简单,安装容易,方便了检查员的校对工作。
2、只要更换测头就能快速校对不同深度的外圈滚道,使同批量校对时间得到缩短,提高了校对效率,降低了校对成本。
附图说明
图1 是本实用新型的结构示意简图。
图1中:1-测台;2 -测头。
具体实施方式
本实用新型是一种外圈深滚道的简易校对装置,该简易校对装置主要用于校对被测外圈深滚道是否符合其设计滚道形状,被测外圈的所述设计滚道形状已确定。
结合图1,本实用新型包括测台1和测头2,测台1由底座和支撑体构成,所述支撑体配置在所述底座的一端并形成倒L状,在所述支撑体上端联接测头2,测头2分为联接段和校对段,其中所述校对段的水平中心线与所述底座的上平面保持平行,其中所述联接段用于联接所述支撑体,所述校对段的水平中心线距所述底座的上平面之间距等于被测外圈宽度的1/2,所述校对段与被测外圈的设计滚道形状相匹配,当被测外圈更换型号时,测头的所述校对段也要及时更换,以便与更换型号被测外圈的设计滚道形状相匹配,所述间距也要作出对应调整。
将被测外圈套在所述支撑体之中并置于所述底座上,测头的联接段是被测外圈的设计滚道外形,将被测外圈的深滚道推向测头的联接段,如果所述联接段完全与被测外圈的深滚道重合并达到规定的深度,说明被测外圈的深滚道符合该外圈的设计滚道,反之说明被测外圈的深滚道不符合该外圈的设计滚道。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于洛阳轴研科技股份有限公司,未经洛阳轴研科技股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201220547778.0/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。