[实用新型]无线双头探针功能测试仪有效
申请号: | 201220541744.0 | 申请日: | 2012-10-22 |
公开(公告)号: | CN202886552U | 公开(公告)日: | 2013-04-17 |
发明(设计)人: | 黄柏翰 | 申请(专利权)人: | 昆山意力电路世界有限公司 |
主分类号: | G01R31/28 | 分类号: | G01R31/28;G01R1/067 |
代理公司: | 昆山四方专利事务所 32212 | 代理人: | 盛建德 |
地址: | 215301 江苏省苏州市*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 无线 探针 功能 测试仪 | ||
技术领域
本实用新型涉及一种功能测试仪,具体是涉及一种无线双头探针功能测试仪。
背景技术
随着科技的不断发展与创新,柔性电路板,简称软板或FPC,以其质量轻、超薄性、可挠性的优点,在电子产品领域得到了极大的发展,FPC产品制成后,需要进行电气性能测试,通常使用TP屏体作来测试FPC产品的电气性能,测试FPC的功能测试治具通常包括底座、支架、待测FPC的定位机构以及连接FPC和测试用TP屏体的探针,但是,通常使用的探针为单头探针,连接FPC时和测试用TP屏体时,探针固定在底座上,探针的一头与待测FPC电连接,探针的另一头连接导线的一端,导线的另一端再连接另一探针,然后再通过另一探针的探头与测试用TP屏体实现电连接,这样的过滤连接方式增加了生产成本,浪费了大量线材,且测试过程中由于引入了多根导线,导线之间容易形成电磁干扰,从而影响干扰了测试结果。
发明内容
为了解决上述技术问题,本实用新型提出一种无线双头探针功能测试仪,具有结构简单,便于实施操作,且能够节省资源、避免导线间的电磁干扰影响测试结果等多重优点。
本实用新型的技术方案是这样实现的:
一种无线双头探针功能测试仪,包括底座、支架、测试用TP屏体和一组与待测FPC电连接相匹配的双头探针,所述底座包括顶板和底板,所述顶板和所述底板通过若干个支柱定位固连,以使用方向为基准,所述支架一端固定于所述顶板上表面,另一端侧部固连有第一定位机构,所述第一定位机构能够在所述顶板上表面上定位和脱离待测FPC,所述顶板上另设有第二定位机构,所述第二定位机构能够在所述顶板下表面上定位和脱离所述测试用TP屏体,所述探针定位固定于所述顶板上,所述探针一头电连接待测FPC,另一头电连接测试用TP屏体。
作为本实用新型的进一步改进,所述第一定位机构能够在所述顶板上定位和脱离待测FPC的结构是:所述第一定位机构包括驱动手柄、驱动杆、定位压板和若干个与待测FPC上的通孔相匹配的定位针,以使用方向为基准,所述定位针一端定位固设于所述顶板上表面,对应每一个定位针,所述定位压板的下表面上设有定位孔,所述定位压板的上表面与所述驱动杆一端固连,所述驱动手柄能够驱动所述驱动杆朝向和背向所述定位针往复运动,使所述定位针穿入和脱离所述定位孔。
作为本实用新型的进一步改进,所述驱动手柄能够驱动所述驱动杆朝向和背向所述定位针往复运动的结构是:所述第一定位机构还包括连接板、限位体和导柱,以使用方向为基准,所述连接板定位固定于所述支架背向所述顶板一端的侧部,所述驱动手柄一端延伸岔开形成第一支臂和第二支臂,所述连接板的上端侧部朝向所述第一支臂设有第三支臂,所述第一支臂的自由端与所述第三支臂铰连接,所述第二支臂的自由端与所述驱动杆一端铰连接,且所述驱动杆竖向设置,所述限位体一端沿所述驱动杆径向套设于所述驱动杆上,另一端与所述连接板固连,所述导柱一端固定于所述底板上,另一端平行所述驱动杆轴向穿过所述定位压板。
作为本实用新型的进一步改进,所述第二定位机构能够在所述顶板下表面上定位和脱离所述测试用TP屏体的结构是:所述第二定位机构包括连接部和弹性部,所述连接部与所述底座固连,且所述弹性部与所述顶板之间形成容置空间,所述测试用TP屏体能够容置于所述容置空间,且所述弹性部能够弹性抵压所述测试用TP屏体。
作为本实用新型的进一步改进,所述探针定位固定于所述顶板上,所述探针一头电连接待测FPC,另一头电连接测试用TP屏体的结构是:所述探针穿透定位于所述顶板内,且位于所述第一定位机构和所述第二定位机构之间,所述探针的两头分别电连接所述待测FPC和测试用TP屏体。
作为本实用新型的进一步改进,所述双头探针为双向弹性针。
作为本实用新型的进一步改进,所述双向弹性针的结构是:设有一弹簧、两针头和一针筒,所述弹簧的两端分别与所述两针头固连,且套设于所述针筒内。
作为本实用新型的进一步改进,所述顶板和所述底板分别呈方形,所述顶板和所述底板的四角通过四个支柱定位固连。
作为本实用新型的进一步改进,所述驱动手柄上设有胶套。
本实用新型的有益效果是:本实用新型通过第一定位机构和第二定位机构就可以实现定位于底座上的双头探针直接连接待测FPC和测试用TP屏体,与传统使用两个单头探针间接连接待测FPC和测试用TP屏体相比,无需引入多条导线过渡连接,因此,能够有效减低生产成本,节约线材,且可以避免测试过程中导线之间形成电磁干扰,确保测试结果的准确可靠,且本实用新型结构简单,便于实施操作。
附图说明
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