[实用新型]HF收发机综合测试台

说明书

技术领域

 本实用新型涉及航空电子设备维修测试领域，尤其涉及一种HF收发机综合测试台。

背景技术

目前，国外所使用的HF收发机系统检测维修设备，都是由国外厂家生产的有关HF收发机系统测试配套设备。这些设备虽能较好的满足人们的不同测试需求，但该设备价格却极其昂贵，不便于人们购买和使用。

发明内容

本实用新型的目的是为了克服现有通用HF-700/900收发机综合测试台造价极其昂贵的缺陷，提供一种不仅结构简单、实用性高，而且造价非常低廉的通用HF收发机综合测试台。

为实现上述目的，本实用新型采用的技术方案是：一种HF收发机综合测试台，包括试验台本体，试验台本体上设有连接电缆接头J1、J2、J3、J4、J5,以及电源开关、离散控制开关、ARINC429数据信号输入孔、ARINC429数据信号输出孔、离散及模拟信号测试孔、状态指示灯、Q9插座、电位器、表头、电源输入孔。

作为优选，所述的电缆接头J1用于连接到收发机的MP接口，J2用于连接到收发机的TP接口，J3用于连接到耦合器的J1接口，J4用于连接到控制盒的J1接口，J5用于连接到收发机的BP接口。

作为优选，所述的离散控制开关为13个，分别为S1至S13，所述S1为三相115VAC/400Hz电源控制开关；向上为ON，向下为OFF；S2为HF CONT控制开关，向上为ON，向下为OFF；S3为PORT SEL选择开关，向上选择A，向下选择B；S4为NARROW/WIDE选择开关，向上选择NARROW，向下选择WIDE；S5为 STRUT控制开关，向上为GND，下为AIR；S6为BELOWER控制开关，向上打开收发机风机电源，向下断开风机电源；S7为PANEL LIGHT控制开关，向上控制盒面板灯点亮；S8为SQ/RF SENS选择开关，向上选择SQ，向下选择RF SENS；S9为SDI选择开关，向上选择0，向下选择1；S10为 CONT PANEL控制开关，向上为ON，向下为OFF；S11为备用开关；S12为 PTT控制开关，按压PTT开关收发机处于发射状态；S13为DATA KEY控制开关，按压DATA KEY开关收发机处于数据信号发射状态。

作为优选，所述的ARINC429数据信号输入孔为4个，分别为TP1、TP2、TP3 、TP4，所述TP1为FREQ PORT A/A数据信号输入；TP2为FREQ PORT A/B数据信号输入；TP3为FREQ PORT B/A数据信号输入；TP4为FREQ PORT B/B数据信号输入。

作为优选，所述的ARINC429数据信号输出孔为4个，分别为TP5、TP6、TP7、TP8。所述TP5为BITE IN HI数据自检信号输入；TP6为BITE IN LO数据自检信号输入；TP7为BITE OUT HI数据自检信号输出；TP8为BITE OUT LO数据自检信号输出。

作为优选，所述的离散及模拟信号测试孔为32个，分别为TP9至TP40，所述TP9为KEY LINE TEST；TP10为IDE TONE TEST； TP11为AM AGC TEST ；TP12为IF AGC TEST；TP13为CONTROL IN FAIL TEST；TP14为AM COMP TEST；TP15为LOSS OFF LOCK TEST；TP16为OUT OF BAND TEST；TP17为+20VDC TEST；TP18为+28VDC TEST；TP19为ALC VOL TEST；TP20为PROCESSOR FAULT TEST；TP21为MIC CONT VOL TEST；TP22为RF AGC TEST；TP23为RF DETECT TEST；TP24为LRU FAIL TEST；TP25为+10VDC TEST；TP26为+5VDC TEST；TP27为PROTECT TEST；TP28为COMP AGC TEST；TP29为KEY IN；TP30为SPARE ；TP31为PA CURR LO TEST；TP32为PA VOL/CURR HI TEST；TP33为GND TEST；TP34为POWER COMM TEST；TP35为MAIN TEST；TP36为-12VDC TEST；TP37为REFLECT POWER TEST；TP38为FOR WARD POWER TEST；TP39为SPARE；TP40为SPARE。