[实用新型]一种探针框架装置有效

专利信息
申请号: 201220446351.1 申请日: 2012-09-03
公开(公告)号: CN202837350U 公开(公告)日: 2013-03-27
发明(设计)人: 邓朝阳;林子锦;裴晓光;赵海生 申请(专利权)人: 北京京东方光电科技有限公司
主分类号: G01R1/067 分类号: G01R1/067
代理公司: 北京派特恩知识产权代理事务所(普通合伙) 11270 代理人: 王黎延;任媛
地址: 100176 北京市*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 探针 框架 装置
【说明书】:

技术领域

实用新型涉及基板检测领域,尤其涉及一种探针框架装置。

背景技术

按TFT-LCD(Thin Film Transistor-Liquid Crystal Display,薄膜场效应晶体管-液晶显示器)的基本结构,TFT-LCD的制备过程主要包含下述工艺流程:

1、彩色滤光片制备工艺,主要是在玻璃基板上通过溅射成膜、光刻、喷墨打印、印制等方式形成红、绿、蓝三基色图形,以及起遮光作用的黑矩阵图形等。

2、阵列基板制造工艺,又称阵列或Array工艺,主要是在玻璃基板上通过成膜技术、光刻技术、刻蚀技术等半导体工艺技术形成薄膜晶体管(Thin Film Transistor,TFT)阵列图形,同时会在周边区域形成引线和测试点,便于对TFT阵列图形进行电学测试。

3、液晶盒制备工艺,又称成盒工艺或Cell工艺,主要是把制备好的彩色滤光片和阵列基板以单元像素为单位精确对准后,利用封框胶密封,并在中间灌注液晶材料,同时切割成最终所需要的显示屏尺寸的过程。

4、模块组装工艺,又称Module工艺,为液晶显示屏安装背光源、偏振片以及周边电路,形成完整的TFT-LCD显示模块。

其中,在Array工艺中,一般需要对阵列基板的TFT阵列图形进行电学测试,目前常用的阵列基板测试(Array Test)技术是通过探针框架的探针接触阵列基板上的测试点将信号加载到阵列图形中来实现检测。

图1为现有技术中探针框架装置的结构示意图,如图1所示,现有技术的探针框架装置中,探针与支架为一体化结构,即探针的位置、间距、数量是固定的,不能进行改动,但是,由于不同阵列图形设计的测试点位置、间距会有所不同,所以,每增加一款产品,都需要对应地增加一款探针框架来对所述产品的阵列基板进行测试。当一款产品不再生产时,对应的探针框架也就随之丢弃掉,造成很大的浪费。

实用新型内容

有鉴于此,本实用新型的主要目的在于提供一种探针框架装置,能够提高探针框架装置利用率,节省成本。

为达到上述目的,本实用新型的技术方案是这样实现的:

一种探针框架装置,包括:探针支架和可沿所述探针支架各边移动的至少一个探针模块。

所述探针框架装置还包括驱动探针模块沿探针支架各边发生移动的驱动模块。

所述驱动模块通过伺服驱动的方式实现。

所述探针框架装置还包括在探针模块移动到预设位置后,将所述探针模块固定在探针支架上的固定模块。

所述固定模块为定位螺丝。

所述探针框架装置还包括用于将各探针模块连接至信号源的引线。

所述探针框架装置还包括用于将各探针模块连接至信号源的引线。

所述探针支架内环和/或外环为凹槽结构。

本实用新型所述的探针框架装置,探针框架装置包括:探针支架和可沿所述探针支架各边移动的至少一个探针模块。本实用新型将探针支架和探针模块进行分离,当需要测试另外一款产品时,只需调整探针模块的位置或更换价格低廉的探针模块,而价格昂贵的探针支架可以得到再利用,从而避免探针框架由于更新换代造成的浪费,提高了探针框架装置利用率,且生产和维修成本较低。

附图说明

图1为现有技术中探针框架装置的结构示意图;

图2为本实用新型实施例一种探针框架装置结构示意图;

图3为本实用新型实施例一种伺服驱动原理示意图;

图4为图2中附图标记2所示结构的局部放大图。

具体实施方式

本实用新型实施例的探针框架装置包括:探针支架和可沿所述探针支架各边移动的至少一个探针模块。

本实用新型的第一个技术方案,一种探针框架装置,所述探针框架装置包括:探针支架和可沿所述探针支架各边移动的至少一个探针模块。

本实用新型的第二个技术方案,在第一个技术方案的基础上,所述探针框架装置还包括驱动探针模块沿探针支架各边发生移动的驱动模块。

本实用新型的第三个技术方案,在第二个技术方案的基础上,所述驱动模块通过伺服驱动的方式实现。

本实用新型的第四个技术方案,在上述任一技术方案的基础上,所述探针框架装置还包括在探针模块移动到预设位置后,将所述探针模块固定在探针支架上的固定模块。

本实用新型的第五个技术方案,在第四个技术方案的基础上,所述固定模块为定位螺丝。

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