[实用新型]一种用于校准瞬变电磁场场均匀性的带支架的系统

说明书

技术领域

本实用新型涉及电磁场的场均匀性的校准技术领域，特别涉及一种用于校准瞬变电磁场场均匀性的带支架的系统。

背景技术

对于射频电磁场，IEC61000系列标准给出了两种电磁场的场均匀性的校准方法，即恒定场强校准法和恒定功率校准法。恒定场强校准法是通过调整前向输出功率建立一个场强恒定的均匀场，然后用一个经校准的场强探头以指定的步长在每个频段对待测区域内的各个点进行测量。恒定功率校准法与之不同的是测量时保持前向输出功率恒定。

对于瞬变电磁场，MIL-STD-461F标准采用了上述恒定场强校准法。但是，恒定场强校准法存在以下不足：

(1)瞬变电磁场由脉冲信号源触发的单脉冲信号产生，为了获得恒定的电磁场，需要反复调节脉冲信号源的输出功率，因此必须既可以准确监测所用脉冲信号源的输出功率，又可以对所用脉冲信号源的输出功率进行微调，对包括脉冲信号源在内的瞬变电磁场产生装置的要求高；

(2)通常需要用高压探头监测脉冲信号源的输出功率，在实际应用中有时很难实现；

(3)校准时间较长，使用不方便。

对于瞬变电磁场，如果采用恒定功率校准法，也存在以下问题：

(1)需要脉冲信号源多次触发输出多个单脉冲信号，各个单脉冲信号的幅度很难完全保持一致，即存在脉冲信号源输出的各个单脉冲信号不稳定的问题，导致瞬变电磁场均匀性校准的准确度降低；

(2)对脉冲信号源输出稳定性的要求导致瞬变电磁场产生装置的成本较高。

用于校准瞬变电磁场的场均匀性的系统通常需要测试多个位置。校准瞬变电磁场的场均匀性时，不但需要支架支撑和固定测试探头，而且需要通过支架调节测试探头的位置和角度。具体地，校准瞬变电磁场的场均匀性时，通常需要通过调节支架来改变固定有探头的测试杆的角度和长度，甚至需要通过调节支架实现测试杆绕固定轴的转动。现有技术中的支架都不能直接实现上述功能，因此在用于校准瞬变电磁场的场均匀性时非常不便。

目前，非常需要一种对包括脉冲信号源在内的瞬变电磁场产生装置要求低、快速、准确且低成本的瞬变电磁场的场均匀性的校准系统。

实用新型内容

本实用新型的目的是提供一种用于校准瞬变电磁场场均匀性的带支架的系统。

本实用新型提供的用于校准瞬变电磁场场均匀性的带支架的系统包括支架、示波器、第一探头和第二探头；

所述支架包括底座、转轴、圆拱形的第一拱衬、圆拱形的第二拱衬、第一测试杆、第二测试杆、第一旋钮、第二旋钮、第一探头固定装置和第二探头固定装置；

所述第一探头固定于所述第一测试杆上，所述第二探头固定于所述第二测试杆上，且所述第一探头和所述第二探头与所述示波器电连接；

所述底座的上表面设有凸起，所述转轴固定于所述凸起上，所述第一拱衬和所述第二拱衬设于所述底座的上表面，且所述凸起和所述转轴穿过所述第一拱衬和所述第二拱衬的中空部分，所述第一拱衬所在的平面和所述第二拱衬所在的平面分别与所述底座的上表面垂直；

所述第一测试杆和所述第二测试杆的底端分别呈“h”字形，所述第一测试杆和所述第二测试杆的底端分别与所述转轴铰接，且所述第一测试杆和所述第二测试杆分别能够绕所述转轴转动，所述第一拱衬被设置为穿过所述第一测试杆的底端的缺口，所述第二拱衬被设置为穿过所述第二测试杆的底端的缺口；

所述第一拱衬上设有圆拱形的第一凹槽，所述第一旋钮上设有螺纹，所述第一测试杆底端的第二侧板上设有与所述第一旋钮配合的螺纹，所述第一旋钮穿过所述第一测试杆底端的第一侧板和所述第一凹槽与所述第一测试杆底端的第二侧板配合，通过旋紧所述第一旋钮能够使所述第一测试杆的位置固定；

所述第二拱衬上设有圆拱形的第二凹槽，所述第二旋钮上设有螺纹，所述第二测试杆底端的第四侧板上设有与所述第二旋钮配合的螺纹，所述第二旋钮穿过所述第二测试杆底端的第三侧板和所述第二凹槽与所述第二测试杆底端的第四侧板配合，通过旋紧所述第二旋钮能够使所述第二测试杆的位置固定；

所述第一探头固定装置设于所述第一测试杆上；所述第二探头固定装置设于所述第二测试杆上，所述第一探头固定装置能够沿所述第一测试杆自由滑动，所述第二探头固定装置能够沿所述第二测试杆自由滑动，所述第一探头固定装置上设有第三旋钮，所述第二探头固定装置上设有第四旋钮，通过旋紧所述第三旋钮能够使所述第一探头固定装置的位置固定，通过旋紧所述第四旋钮能够使所述第二探头固定装置的位置固定。