[实用新型]取像系统

说明书

技术领域

本实用新型涉及一种取像系统，特别是涉及一种进行光学检测的取像系统。

背景技术

参阅图1，影像检测装置是用来对一个待测物92的一个待测表面T1进行影像检测。一般检测装置的一个影像撷取单元91，检测时是对位于该待测表面T1，并沿一根光学轴N1进行取像。该影像撷取单元91包含垂直该光学轴N1且沿该光学轴N1间隔排列的一个镜头透镜911及一个例如CCD或CMOS感光面板912。由于该光学轴N1与该待测表面T1的法线N2的夹角为零时，无法观测到例如刮痕或是液晶面板的水波纹等现象，因此业者通常使该光学轴N1与该待测表面T1的法线N2夹一个角度，藉此，得以观测到如刮痕或液晶面板的水波纹等现象。

然而，当该待测表面T1与该镜头透镜911夹一个角度，成像面T2亦会与感光面板912夹一个角度而非重迭，也就是只会有一部分光线聚焦于该感光面板912上而清楚成像，而大部分光线聚焦于该感光面板912前方或后方，导致成像模糊。

发明内容

因此，本实用新型的目的是提供一种倾斜取像而可清楚成像的取像系统。

本实用新型的取像系统，适用于对一个待测面进行取像，该取像系统包含：一个镜头透镜，平行该待测面，具有一个光学中心；及一个感光面板，偏移地平行间隔排列于该镜头透镜远离该待测面的一侧，具有一个面板中心；一根通过该光学中心及该面板中心的轴线，该轴线通过该待测面且与一根垂直该待测面的法线夹一个非零的角度，多条光线分别自该待测面经该镜头透镜在该感光面板上聚焦，形成一个与该感光面板重迭的成像面。

较佳地，该感光面板包括一个面扫描感光元件。

较佳地，该感光面板包括一个多重线扫描感光元件。

本实用新型的有益效果在于：该光学中心及该面板中心的轴线与该待测面的法线夹一个非零的角度而能倾斜取像，且来自该待测面的多条光线分别经该镜头透镜在该感光面板上聚焦，形成一个与该感光面板重迭的成像面而能清楚成像。

附图说明

图1是一个系统配置示意图，显示先前技术的一种影像撷取单元；及

图2是一个系统配置示意图，显示本实用新型取像系统的一个较佳实施例。

具体实施方式

为让本实用新型的上述目的、特征和优点能更明显易懂，以下结合附图对本实用新型的具体实施方式作详细说明。首先需要说明的是，本实用新型并不限于下述具体实施方式，本领域的技术人员应该从下述实施方式所体现的精神来理解本实用新型，各技术术语可以基于本实用新型的精神实质来作最宽泛的理解。图中相同或相似的构件采用相同的附图标记表示。

参阅图2，本实用新型一个较佳实施例的取像系统，适用于对一待测物3的待测面S1进行取像，包含一个镜头透镜1及一个感光面板2。待测物3例如为一个液晶面板，由于可能存在刮痕或水波纹等缺陷，因此出厂前利用本实用新型取像系统撷取清楚的影像后，有利于提高后续影像检测的准确率。该待测面S1可以为被其他光源照射而发光的被动发光面，也可以是自行发光的主动发光面。

该镜头透镜1平行该待测面S1，具有一个光学中心P1。

该感光面板2偏移地平行间隔排列于该镜头透镜1远离该待测面S1的一侧，具有一个面板中心P2。

定义一根通过该光学中心P1及该面板中心P2的轴线L1，该轴线L1通过该待测面S1且与一根垂直该待测面S1的法线L2夹一个非零的角度。该角度可容许的大小与该镜头透镜1的成像范围、感光面板2的面积有关，在本实施例中，该角度约为10度，但实际上可能需再视整体设备参数加以调适。

由于该镜头透镜1、该感光面板2都是平行该待测面S1；因此自该待测面S1发出的多条光线分别经该镜头透镜1折射后，能够都在该感光面板2上聚焦，形成一个与该感光面板2重迭的成像面S2。

在本实施例中，该感光面板2包括一个面扫描感光元件，在另一实施态样中，也可以是包括一个多重线扫描(TDI,Time delay integration)感光元件。使用面扫描或是多重线扫描的原因是在于，当发光面光能量不足时，使用面扫描或者多重线扫描可一次使用多排的光电二极管进行感光作用，而在一次曝光时间下，累积多排光电二极管的光量，转换成电荷信号之后再传输出去，累积的亮度较一般线扫描系统来得高。但此类系统的成像需要该成像面S2与该感光面板2重迭，因此结合于本实用新型的设计，其优势得以发挥。