[实用新型]转接器

说明书

技术领域

本实用新型涉及一种转接器，更具体地说，是关于一种可容置用户身份模组(Subscriber Identity Module, SIM)卡，并用以辗转插接于测试机台以对SIM卡进行测试，以避免SIM卡直接插拔于测试机台的转接器。

背景技术

用户身份模组(Subscriber Identity Module, SIM)卡，通常称为“SIM卡”，是保存移动电话服务的用户身份识别数据的智能卡。每个人所使用的移动电话中，如需要进行通讯，都必须要安装SIM卡才可开始通讯的功能，而每一张SIM卡即会对应一个识别码。SIM卡主要由多个功能电路所组成，因此用户在使用SIM卡时，实际上是移动电话向SIM卡发出命令，使SIM卡根根据标准规范来执行行或者拒绝。另外，SIM卡还能够作为存储介面，可储存短信数据或电话号码等。

通常在所有的零组件或装置制备完成时，都需要进行测试的程序，SIM卡也不例外。目前来说，SIM卡要做测试时，皆是直接地将SIM卡插入于一测试机台的一晶片插槽中进行测试。然而，以已知将SIM卡直接插入测试机台的方式，具有下列缺点：

1、由于SIM卡的尺寸较小，使用者不易拿持，如要进行测试作业时，使用者将不易将SIM卡插拔于测试机台之中，如此将使得测试作业效率下降。

2、将SIM卡直接插入测试机台中，容易造成SIM卡的磨损，进而提升耗材的成本费用。

发明内容

有鉴于上述已知技术的问题，本实用新型的目的就是在提供一种转接器，以解决已知将SIM卡直接插入于测试机台中，所造成SIM卡不易插拔及容易磨损的问题。

根据本实用新型的目的，提出一种转接器，其适用容置一晶片卡并插接于一测试机台中。此转接器包含一测试连接元件及一转接元件。测试连接元件包含一测试连接部及一第一电性连接部，测试连接部的一侧与第一电性连接部连接并相互线路导通，测试连接部之外型与尺寸与晶片卡相对应，且测试连接部具有一转接区，转接区位于测试连接部的位置对应于晶片卡的一金手指所在位置。转接元件包含一第二电性连接部及一晶片容置部，第二电性连接部的一侧与晶片容置部连接并相互线路导通，晶片容置部对应放置晶片卡，且第二电性连接部的一面与第一电性连接部的一面连接并相互线路导通，使晶片卡的金手指对应导通至测试连接部的转接区。

较佳地，测试机台包含有一晶片插槽，用于测试连接元件的测试连接部对应插入，使晶片卡与测试机台的内部电路对应导通，以由测试机台对晶片卡进行测试。

较佳地，转接元件更包含有一固定部，固定部的至少一端连接晶片容置部，以对应并卡固晶片卡。

较佳地，第一电性连接部及第二电性连接部可以焊接方式进行连接。

较佳地，晶片卡可为用户身份模组(Subscriber Identity Module, SIM)卡。

根据实用新型的目的，又提出一种转接器，其适用容置一晶片卡并插接于一测试机台中。此转接器包含一测试连接元件、一间接元件及一转接元件。测试连接元件包含一测试连接部及一第一电性连接部，测试连接部的一侧与第一电性连接部连接并相互线路导通，测试连接部的外型与尺寸与晶片卡相对应，且测试连接部具有一转接区，转接区位于测试连接部的位置对应于晶片卡的一金手指所在位置。间接元件之中布有导通线路，间接元件的一面连接第一电性连接部并相互线路导通。转接元件包含一第二电性连接部及一晶片容置部，第二电性连接部的一侧与晶片容置部连接并相互线路导通，晶片容置部对应放置晶片卡，且第二电性连接部的一面与间接元件相对连接第一电性连接部的另一面连接并相互线路导通，使晶片卡的金手指对应导通至测试连接部的转接区。

承上所述，本实用新型的转接器，可提供SIM卡置入，再将转接器插入于测试机台中，让SIM卡可由转接器来对应连接至测试机台，进而对SIM卡进行测试作业。通过此方式，不仅可解决使用者插拔SIM卡于测试机台上的不便，以提升作业效率，更可避免SIM卡与测试机台直接地接触，可有效地降地耗材的成本费用。

附图说明

图1A为本实用新型的测试连接元件的示意图；

 图1B为本实用新型的间接元件的示意图；

图1C为本实用新型的转接元件的示意图。；

图2为本实用新型的转接器的第一实施例的第一示意图；

图3为本实用新型的转接器的第一实施例的第二示意图；

图4为本实用新型的转接器的第二实施例的第一示意图；

图5为本实用新型的转接器的第二实施例的第二示意图。