[实用新型]测试设备自动校准仪及校准系统有效

专利信息
申请号: 201220306748.0 申请日: 2012-06-27
公开(公告)号: CN202794491U 公开(公告)日: 2013-03-13
发明(设计)人: 陈强;叶川;唐亮 申请(专利权)人: 北京泛华恒兴科技有限公司
主分类号: G01R35/00 分类号: G01R35/00
代理公司: 北京市惠诚律师事务所 11353 代理人: 雷志刚;潘士霖
地址: 100192 北京市海淀区*** 国省代码: 北京;11
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 测试 设备 自动 校准 系统
【说明书】:

技术领域

实用新型涉及一种仪器校准技术,尤其涉及一种测试设备自动校准仪及校准系统。 

背景技术

随着社会经济的发展,测试设备在科研、军工、电力及制造等行业中得到广泛应用。在所有的测试设备中,信号发生器和示波器是使用最为广泛的两种测试设备,由于测试设备本身就是一个复杂的电子系统,其受时间、温度环境等多个因素的影响,测试精度会有所改变,因此为了保证产品性能,必须对测试设备进行定期的校准,按照国家计量检定规程的规定,信号发生器需要校准的指标包括频率准确度、电平准确度等三十多个,示波器需要校准的指标多达十多项。 

图1为现有技术中信号发生器校准系统的连接示意图,标准信号发生器包括频谱分析仪2、测量接收机3、微波频率计4和音频分析仪5,以校准谐波指标为例,待校准信号发生器1通过信号电缆与频谱分析仪2相连,手动设置信号发生器1的输出电平、载波频率以及频谱分析仪2的参考电平、中心频率和带宽等,校准过程中还需手动更改待校准信号发生器1的载波频率和频谱分析仪的中心频率,以测试所有要求的谐波峰值,如果需要校准其他指标,则需要重新设置相关参数,还需手动插拔信号电缆将待校准信号发生器1与其他校准设备相连。 

图2为现有技术中示波器校准系统的连接示意图,待校准示波器7与标准示波器6相连,之后手动恢复待校准示波器7的出厂设置,并手动设置待校准示波器7的采样模式、测量模式、垂直偏转系数、翻转设置和带宽等,根据不同的设置在待校准示波器7上读出不同的测量值,并记录下来,由于待校准示波器7具有很多通道,每个通道还针对不同的测试参数,因此当一个通道的所有校准完成后,需要手动的跟换连线将标准示波器6的输出连接到待校准示波器7的另一个通道。 

通过以上描述可以看出,现有技术中的测试设备的校准存在以下缺 点: 

第一,操作复杂:需要手动连接线缆和设置参数; 

第二,误差大:频繁的插拔接插件对测试信号有较大影响,人工记录数据会引入误差。 

实用新型内容

本实用新型提供一种测试设备自动校准仪及校准系统,用于解决现有技术对于信号发生器和示波器校准误差大、操作复杂的问题。 

一种测试设备自动校准仪,包括: 

控制器以及与控制器相连的选通模块; 

控制器用于发送选通命令,并控制外部的待校准测试设备相对外部相应的标准测试设备进行校准; 

选通模块用于根据选通命令,自动选通控制器与相应的标准测试设备和待校准测试设备之间特定测试通道的电连接。 

一种测试设备自动校准系统,包括上述的测试设备自动校准仪,还包括待校准测试设备和相应的标准测试设备,待校准测试设备和相应的标准测试设备均与选通模块相连。 

本实用新型提供的一种测试设备自动校准仪及校准系统,控制器通过选通模块控制外部的待校准测试设备相对外部的相应标准测试设备的自动校准;解决了现有技术中需要手动插拔线缆导致的操作复杂和误差大等问题。 

附图说明

图1为现有技术中信号发生器校准系统的连接示意图。 

图2为现有技术中示波器校准系统的连接示意图。 

图3为本实用新型提供的测试设备自动校准仪一种实施例的结构示意图。 

图4为本实用新型提供的测试设备自动校准系统第一种实施例的结构示意图。 

图5为本实用新型提供的测试设备自动校准系统第二种实施例的结构示意图。 

图6为本实用新型提供的测试设备自动校准系统第三种实施例的结构示意图。 

图7为本实用新型提供的测试设备自动校准系统第四种实施例的结构示意图。 

图8为本实用新型提供的测试设备自动校准系统第五种实施例的结构示意图。 

图9为本实用新型提供的测试设备自动校准方法的流程图。 

具体实施方式

下面参照附图来说明本实用新型的实施例。在本实用新型的一个附图或一种实施方式中描述的元素和特征可以与一个或者更多个其他附图或实施方式中示出的元素和特征相结合。应当注意,为了清楚目的,附图和说明中省略了与本实用新型无关的、本领域普通技术人员已知的部件和处理的表示和描述。 

如图3所示,本实用新型提供的一种测试设备自动校准仪的一种实施例,包括: 

控制器11以及与控制器11相连的选通模块12。 

控制器11用于根据预定设置信息发送选通命令,并控制外部的待校准测试设备相对外部的相应的标准测试设备进行校准。 

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于北京泛华恒兴科技有限公司,未经北京泛华恒兴科技有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201220306748.0/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top