[实用新型]热继电器双金属片检测装置有效

专利信息
申请号: 201220290438.4 申请日: 2012-06-20
公开(公告)号: CN202734782U 公开(公告)日: 2013-02-13
发明(设计)人: 李佳 申请(专利权)人: 苏州工业园区高登威科技有限公司
主分类号: G01B21/00 分类号: G01B21/00
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 215121 江苏省苏州市工业*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 继电器 双金属 检测 装置
【权利要求书】:

1.一种热继电器双金属片检测装置,用于检测热继电器双金属片的位置状态,所述热继电器包括电流触头,其特征在于,所述热继电器双金属片检测装置包括:

检测模块,所述检测模块用于检测热继电器双金属片位置状态;

显示装置,所述显示装置与所述检测模块电性连接,所述显示装置用于显示表征所述热继电器双金属片位置状态的计量值;

第三位移表,所述第三位移表与所述电流触头配合以用于检测并显示表征所述电流触头的位移值。

2.根据权利要求1所述的热继电器双金属片检测装置,其特征在于,所述热继电器双金属片检测装置通过控制热继电器从预定的初始位置运动至预定的测量位置以开始对热继电器双金属片的位置状态的检测,所述热继电器双金属片检测装置通过控制热继电器从预定的测量位置运动至预定的初始位置以结束对热继电器双金属片的位置状态的检测,所述热继电器双金属片检测装置还包括第一位移表和第二位移表,所述第一位移表用于测量并显示热继电器开始检测时从所述初始位置运动至测量位置的距离,所述第二位移表用于测量并显示热继电器结束检测时从所述测量位置运动至初始位置的距离。

3.根据权利要求1所述的热继电器双金属片检测装置,其特征在于,所述检测模块包括探针及位移传感器,所述探针用于与热继电器双金属片配合,所述位移传感器与所述探针电性连接,所述位移传感器通过所述探针检测热继电器双金属片的位置状态。

4.根据权利要求3所述的热继电器双金属片检测装置,其特征在于,所述位移传感器包括电感式位移传感器、和/或电容式位移传感器、和/或光电式位移传感器、和/或超声波式位移传感器、和/或霍尔式位移传感器。

5.根据权利要求3所述的热继电器双金属片检测装置,其特征在于,所述位移传感器包括直线位移传感器。

6.根据权利要求1所述的热继电器双金属片检测装置,其特征在于,所述显示装置包括显示仪表、和/或电子显示器。

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