[实用新型]一种电子连接头测试装置的治具有效
申请号: | 201220245812.9 | 申请日: | 2012-05-29 |
公开(公告)号: | CN202648972U | 公开(公告)日: | 2013-01-02 |
发明(设计)人: | 陈柏清 | 申请(专利权)人: | 东莞市宝元通检测设备有限公司 |
主分类号: | G01M99/00 | 分类号: | G01M99/00 |
代理公司: | 东莞市创益专利事务所 44249 | 代理人: | 李卫平 |
地址: | 523000 广东*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 电子 接头 测试 装置 | ||
技术领域
本实用新型涉及电子连接头测试装置的技术领域,尤其是涉及一种电子连接头测试装置的治具。
背景技术
电子连接头是电子工程领域经常接触的一种部件。它的作用是,电路内被阻断处或孤立不通的电路之间架起沟通的桥梁,从而使电流流通,使电路实现预定的功能。电子连接头是电子设备中不可缺少的部件,顺着电流流通的通路观察,总会发现有一个或多个电子连接头。电子连接头形式和结构是千变万化的,随着应用对象、频率、功率、应用环境等不同,有各种不同形式的电子连接头。但是无论什么样的电子连接头,都要保证电流顺畅连续和可靠地流通。按照电子连接头的基本性能可分为三大类:即机械性能、电气性能和环境性能。机械性能优劣的重要指标是电子连接头的机械寿命。机械寿命实际上是一种耐久性(durability)指标,在国标GB5095中把它叫作机械操作。它是以一次插入和一次拔出为一个循环。插拔寿命测试是评估电子连接头的耐插拔寿命的一项重要测试,目前做这项插拔寿命测试一般都是采取插拔寿命测试治具模拟人工对电子连接头在垂直方向上进行多次插入和拔出的测试,最终评估产品经过多次插入拔出后的磨损等情况,如评估电子连接头的接触电阻值作为评判依据。现有技术的插拔寿命测试治具的弊端是:在同一个插拔寿命测试治具里,每次只能做一个电子连接头样品的插拔寿命测试,而且只能对一类电子连接头进行插拔寿命测试,如此效率甚低,只能上下垂直插拔,不能偏转,工序耗时长,效率不高;只能在垂直方向上进行插拔测试,不能偏转,导致测试过程中产品磨损非常大,没有达到模拟人工插入拔出的效果。因此急需一种可以一次测试多个样品,提高测试效果和测试效率,能够更好的模拟人工测试的插拔寿命测试治具。
发明内容
本实用新型的目的在于克服现有技术的缺陷,提供一种电子连接头测试装置的治具,该治具可以一次测试多个样品,且具有可调节性,调节方便快捷,提高测试效果和测试效率。
为达到上述目的,本实用新型采用如下技术方案:
一种电子连接头测试装置的治具,包括有相互配合的上夹具和下夹具,其中:上夹具按可调节式安装于U形上夹具座上,上夹具的夹口朝下;U形上夹具座的上端通过求心装置连接于一上横杆,上横杆通过可调旋转角度的连接块连接于驱动装置;下夹具按可调节式安装于U形下夹具座上,下夹具的夹口朝上;U形下夹具座的下端连接于一升降横梁上。
上述方案进一步是:所述上夹具嵌装在U形上夹具座的U形口内,U形上夹具座的两侧壁上设有相对的调节螺杆,调节螺杆的内端驱动上夹具的对应夹臂移动。
上述方案进一步是:所述下夹具嵌装在U形下夹具座的U形口内,U形下夹具座的两侧壁上设有相对的调节螺杆,调节螺杆的内端驱动下夹具的对应夹臂移动。
上述方案进一步是:所述升降横梁的中段部位连接一上下伸缩轴,而升降横梁的两端设有导孔分别套接于两根竖立平行的导柱上。
与现有技术相比,本实用新型的上夹具按可调节式安装于U形上夹具座上,上夹具的夹口朝下;U形上夹具座的上端通过求心装置连接于一上横杆,上横杆通过可调旋转角度的连接块连接于驱动装置,上横杆上可根据需要安装有多组上夹具;而下夹具按可调节式安装于U形下夹具座上,下夹具的夹口朝上;U形下夹具座的下端连接于一升降横梁上。这样,在实际使用时,可以一次测试多个样品,以提高测试效果和测试效率,且还具有如下优点:1、上夹具用求心装置连接,可旋转,可前后左右移动能达到自动求心的功能,从而避免了上下夹具不同心造成样品的物理破坏,使测试结果判定更准确。2、下夹具与上夹具间隔距离一致,并且夹具夹持是两边调节,更方便测试时上下对齐。3、下夹具全部安装在机器的升降横梁上,与升降横梁平行,极大的减少了测试时因受力不均而造成的吃边现象。
附图说明:
附图1为本实用新型的其一实施例结构示意图。
具体实施方式:
以下结合附图对本实用新型进一步说明:
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