[实用新型]一种热脱附测试系统在真空状态下的更换样品装置有效

专利信息
申请号: 201220188151.0 申请日: 2012-04-27
公开(公告)号: CN202522464U 公开(公告)日: 2012-11-07
发明(设计)人: 赵振华;马玉田;吕广宏;王波;张颖 申请(专利权)人: 北京航空航天大学
主分类号: G01N1/44 分类号: G01N1/44
代理公司: 北京永创新实专利事务所 11121 代理人: 周长琪
地址: 100191*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 热脱附 测试 系统 真空 状态 更换 样品 装置
【权利要求书】:

1.一种热脱附测试系统在真空状态下的更换样品装置,其特征在于:包括真空室和设置在热脱附测试系统的真空加热室内的样品支撑架,其中真空室中包括三个磁流体密封装置、曲柄滑块机构、样品托盘和连杆支撑架;所述的真空室与真空加热室之间的管路上设置插板阀;所述的曲柄滑块机构包括曲柄、滑块和连杆;所述的磁流体密封装置分别为磁流体密封装置A、磁流体密封装置B和磁流体密封装置C;所述的磁流体密封装置A在真空室内一端焊接齿轮,和曲柄滑块机构的曲柄通过齿轮传动连接;曲柄上连接滑块;滑块和连杆采用铰接的方式固定连接;连杆穿过连杆支撑架;磁流体密封装置B在真空室内一端焊接一个螺母,与连杆支撑架之间通过丝杆传动连接;磁流体密封装置C在真空室内一端焊接斜齿轮,与样品托盘通过斜齿轮传动连接。

2.根据权利要求1所述的更换样品装置,其特征在于:所述的磁流体密封装置A和曲柄之间设置一个机架,磁流体密封装置A的齿轮与曲柄滑块机构设置在机架上面的齿轮啮合。

3.根据权利要求1所述的更换样品装置,其特征在于:所述的曲柄贯穿于滑块之中,与滑块滑动连接。

4.根据权利要求1所述的更换样品装置,其特征在于:所述的连杆支撑架垂直于真空室底部,与连杆连接部分为方形,方形结构的中间设置一个通孔。

5.根据权利要求1所述的更换样品装置,其特征在于:所述的连杆的最右端设置一个钩状结构。

6.根据权利要求1所述的更换样品装置,其特征在于:所述的样品托盘包括一个圆板和圆板周围固定安装的对称的平行支架,在平行支架上放置石英板,每个石英板上面放置待测样品,石英板的宽度大于平行支架的宽度。

7.根据权利要求1所述的更换样品装置,其特征在于:所述的样品托盘的安装位置低于真空室管道下边缘。

8.根据权利要求1所述的更换样品装置,其特征在于:所述的样品支撑架整体为一个圆筒形,圆筒的直径小于石英管的直径,所述的石英管为真空加热室;圆筒形结构的内部设置有平行支架。

9.根据权利要求8所述的更换样品装置,其特征在于:所述的样品支撑架的平行支架的安装方向与连杆的方向相同。

10.根据权利要求8所述的更换样品装置,其特征在于:所述的样品支撑架的平行支架之间的宽度和样品托盘中的平行支架宽度相同。

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