[实用新型]一种通用测试设备的系统级自动校准装置

说明书

技术领域

本实用新型涉及一种通用测试设备的系统级自动校准装置，属于测试系统校准设备技术领域。

背景技术

目前，通用总线测试设备，基本都采用国际统一标准制备，使不同厂家提供的各种通用功能模块互换性良好，从而十分利于集成一套功能强大的测试设备。但如VXI测试设备等通用测试设备在使用中，经常因受各种应力及环境的影响而出现参数测试不准确的现象。为保证该设备能够准确地进行测试，则需要对其进行校准，然而，现有技术中，主要是对测试设备中的各种通用功能模块进行校准，不能对完整的测试设备进行全面校准，从而极易导致对通用测试设备的校准出现较大误差，进而影响设备的测试的准确性。因此，亟需研究开发出一种通用测试设备校准装置，能够方便地对其进行全面的系统校准，从而使设备测试结果的准确度得到有效保证。

实用新型内容

本实用新型的目的是针对现有技术存在的问题，提供一种通用测试设备的系统级自动校准装置，能够对通用测试设备的准确度进行校准，从而有效避免其进行测试时出现校大误差，进而为相关被测设备的准确度提供保障。

本实用新型解决技术问题的方案是：一种通用测试设备的系统级自动校准装置，包括待校通用测试设备和计算机，其中，还包括控制系统和校准系统，所述待校通用测试设备与所述校准系统相连接，所述校准系统与所述控制系统相连接，所述计算机分别与所述待校通用测试设备和所述控制系统相连接。

进一步地，所述校准系统包括相互连接的基准装置和校准适配器。

进一步地，所述控制系统包括相互连接的开关、通讯装置和控制装置。

进一步地，所述基准装置分别与所述控制系统的开关和通讯装置相连接。

所述校准适配器与所述控制系统的开关相连接；所述计算机与所述控制装置相连接。

应用本实用新型通用测试设备的系统级自动校准装置对通用测试设备进行校准时，首先，所述计算机通过所述通讯装置控制所述基准装置产生标准信号，所述计算机同时控制所述控制系统的开关，将所述基准装置生成的标准信号同步切换到和开关相连接的通道上，并将标准信号送入所述校准适配器中，再输入到所述待校通用测试设备中；接着，待校通用测试设备对接收到的标准信号进行测试，然后，将其测试信号输入所述计算机中，在计算机中，进行标准信号与测试信号的比校，通过计算即可获得通用测试设备的测量准确度，从而完成对待校通用测试设备的校准。

与现有技术相比，本实用新型的有益效果是：设计合理，结构简单，操作便捷，充分实现了对通用测试设备全自动且全方位的校准，解决了部分校准所带来的准确度的不确定性问题，使通用测试设备的测量准确度得到有效校准，进而为相关被测装置的有关设备的准确度提供保障，并且，大幅提高了校准效率及准确度，适合在相关领域推广应用。

附图说明

图1为本实用新型通用测试设备的系统级自动校准装置的总体结构框图；

图2为本实用新型通用测试设备的系统级自动校准装置的基本结构示意图。

图中所示：1-待校通用测试设备；2-控制系统，201-开关，202-通讯装置，203-控制装置；3-校准系统，301-基准装置，302-校准适配器；4-计算机。

具体实施方式

如图1所示，一种通用测试设备的系统级自动校准装置，包括待校通用测试设备1、控制系统2、校准系统3、计算机4，待校通用测试设备1与校准系统3相连接，校准系统3与控制系统2相连接，计算机4分别与待校通用测试设备1和控制系统2相连接。

如图2所示，控制系统2包括相互连接的开关201、通讯装置202和控制装置203，校准系统3包括基准装置301和校准适配器302；基准装置301分别与开关201和通讯装置202相连接，校准适配器302与开关201相连接，计算机4与控制装置203相连接。

应用本实用新型通用测试设备的系统级自动校准装置对待校通用测试设备1进行校准时，首先，计算机4通过通讯装置202控制基准装置301产生标准信号，计算机4同时控制开关201将基准装置301生成的标准信号同步切换到和开关201相连接的通道(图中未示)上，并将标准信号送入校准适配器302中，再输入到待校通用测试设备1中；接着，待校通用测试设备1对接收到的标准信号进行测试，然后，将其测试信号输入到计算机4中，在计算机4中，进行标准信号与测试信号的比校，通过计算即能够获得通用测试设备的测量准确度，从而完成对待校通用测试设备1的校准。

本实用新型的保护范围并不限于上述具体实施方式，任何对本实用新型实质性内容进行的变型、改进在本实用新型的保护范围内。