[实用新型]一种微细探针测试治具有效

专利信息
申请号: 201220147106.0 申请日: 2012-04-10
公开(公告)号: CN202649242U 公开(公告)日: 2013-01-02
发明(设计)人: 吴兆正 申请(专利权)人: 昆山鸿裕电子有限公司
主分类号: G01R1/04 分类号: G01R1/04
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 215300 江*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 一种 微细 探针 测试
【权利要求书】:

1.一种微细探针测试治具,包括测试针、针盘面和底座,其特征在于,它还包括至少二块移动板,所述移动板中心、所述针盘面中心和所述底座中心均设有复数个测试针孔,所述测试针一端与针盘面中心测试针孔连接,另一端穿过移动板中心测试针孔后与底座中心测试针孔连接。

2.根据权利要求1所述的微细探针测试治具,其特征在于所述移动板中心上设置的复数个测试针孔与所述针盘面中心设置的复数个测试针孔和所述底座中心设置的复数个测试针孔均一一对应。

3.根据权利要求1所述的微细探针测试治具,其特征在于所述治具还包括至少四根铁柱,且针盘面上、底座上和移动板上均设有至少四个铁柱孔与所述铁柱配合。

4.根据权利要求1所述的微细探针测试治具,其特征在于所述治具还包括至少六根支柱,且针盘面上和底座上均设有至少六个支柱孔与所述支柱配合。

5.根据权利要求1或4所述的微细探针测试治具,其特征在于所述移动板四周设有至少六个凹口与所述支柱配合。

6.根据权利要求5所述的微细探针测试治具,其特征在于所述凹口具有弧形截面。

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