[实用新型]层压机测温用自动吸附的温度测试装置有效
| 申请号： | 201220106240.6 | 申请日： | 2012-03-20 |
| 公开（公告）号： | CN202485820U | 公开（公告）日： | 2012-10-10 |
| 发明（设计）人： | 李玉平 | 申请（专利权）人： | 常州亿晶光电科技有限公司 |
| 主分类号： | G01K7/02 | 分类号： | G01K7/02;G01K1/14 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 213213 江苏*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 层压 测温 自动 吸附 温度 测试 装置 | ||
【权利要求书】：
1.一种层压机测温用自动吸附的温度测试装置，其特征在于：包括数字显示表(1)，数字显示表(1)的输入端连接有温度探头(2)，所述的温度探头(2)外缠绕有带电源线(4)的金属线圈(3)。
2.如权利要求1所述的层压机测温用自动吸附的温度测试装置，其特征在于：所述的温度探头(2)呈狭长形。
3.如权利要求1所述的层压机测温用自动吸附的温度测试装置，其特征在于：所述的温度探头(2)采用K型热电偶作为温度传感器。
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