[发明专利]一种单纤双向光模块的测试系统及测试方法有效
申请号: | 201210592321.6 | 申请日: | 2012-12-28 |
公开(公告)号: | CN103023562A | 公开(公告)日: | 2013-04-03 |
发明(设计)人: | 李岩;穆磊;王飚 | 申请(专利权)人: | 武汉电信器件有限公司 |
主分类号: | H04B10/07 | 分类号: | H04B10/07 |
代理公司: | 北京汇泽知识产权代理有限公司 11228 | 代理人: | 张瑾 |
地址: | 430074 湖*** | 国省代码: | 湖北;42 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 双向 模块 测试 系统 方法 | ||
技术领域
本发明涉及光通信领域,尤其涉及一种单纤双向光模块的测试系统及测试方法。
背景技术
因为单纤双向光模块是采用一根光纤进行收发的光模块,所以在光模块生产过程中,测试发射指标和接收指标时需要更换光纤,这样就给生产带来了不便,而且还有可能污染光纤端面,影响测试结果,同时,更换光纤过程也会影响测试效率。如果能够保证单纤双向光模块在测试过程中不更换光纤,这样不仅会减少端面擦拭次数,避免端面污染,也会大大地提高生产效率。
发明内容
为解决上述问题,本发明提供一种基于光纤环形器的单纤双向光模块测试系统和测试方法,即采用光纤环形器来实现单纤双向光模块生产测试。
本发明的技术方案是这样实现的:
一种单纤双向光模块的测试系统,其特征在于:包括误码仪、光源、待测模块、电脑、衰减器、光纤环形器、光分路器、示波器和光功率计;
其中,误码仪、待测模块、光纤环形器和示波器依次连接,待测模块通过总线连接到电脑,实现模块发射参数的测试系统;
误码仪、光源、衰减器、光分路器、光纤环形器、待测模块依次连接,光分路器连接光功率计,待测模块通过总线连接到电脑,实现模块接收参数的测试系统。
进一步地,所述光纤环形器有a、b、c三个端口,光分路器连接端口a,待测模块连接端口b,示波器连接端口c。
进一步地,所述光分路器为1分2光分路器。
一种单纤双向光模块的测试方法,其特征在于包括:
测试待测模块发射参数的步骤:误码仪发出电信号给待测模块,从待测模块发出的光从环形器的b端口输入,光几乎毫无损失地由c端口输出给示波器(其他端口处几乎没有光输出),从示波器中读出发射的参数;
测试待测模块接收参数的步骤:误码仪发出电信号给光源,光源发光经过衰减器衰减,并通过光分路器一路给光功率计读数,另一路光由光环形器a端口输入,光几乎毫无损失地由b端口输出给待测模块(其他端口处几乎没有光输出),待测模块将光转换成电信号返回给误码仪,这样用来测试接收参数;
上述方法中,电脑对待测模块进行控制。
采用本发明所述的单纤双向光模块测试系统和测试方法,使得在整过模块的测试过程中,不需要更换光纤,就可以既能测光模块的发射指标,又能测量光模块的接收指标,有效的避免了在测量中带来的不利因素(比如端面污染等),这样不仅对测试的结果带来稳定性,同时也提高了测试效率。
附图及附图说明
图1 测试系统结构框图
具体实施方式
下面通过实施例,并结合附图,对本发明的技术方案作进一步地说明,显然,所描述的实施例仅仅是本发明的部分实施方式。
实施例1
本发明的一种单纤双向光模块的测试系统,包括误码仪、光源、待测模块、电脑、衰减器、光纤环形器、1分2光分路器、示波器和光功率计;
其中,误码仪、待测模块、光纤环形器和示波器依次连接,待测模块通过总线连接到电脑,实现模块发射参数的测试系统;
误码仪、光源、衰减器、1分2光分路器、光纤环形器、待测模块依次连接,1:2光分路计器连接光功率计,待测模块通过总线连接到电脑,实现模块接收参数的测试系统。
光纤环形器有a、b、c三个端口,光分路器连接a端口,待测模块连接b端口,示波器连接c端口。
上述测试系统的测试原理和步骤为:
1、测试待测模块发射参数的步骤:误码仪发出电信号给待测模块,从待测模块发出的光从光纤环形器的b端口输入,光几乎毫无损失地由c端口输出给示波器,从示波器中读出发射的参数;
2、测试待测模块接收参数的步骤:误码仪发出电信号给光源,光源发光经过衰减器衰减,并通过1分2光分路器一路给光功率计读数,另一路光由光纤环形器a端口输入,光几乎毫无损失地由b端口输出给待测模块,待测模块将光转换成电信号返回给误码仪,这样用来测试接收参数;
上述步骤中,电脑对待测模块进行控制。
应理解,上述实施例仅是为充分说明本发明而所举的较佳的实施例,本发明的保护范围不限于此。本技术领域的技术人员在本发明基础上所作的等同替代或变换,均在本发明的保护范围之内。本发明的保护范围以权利要求书为准。
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