[发明专利]一种信号波动分析方法、装置及系统

权利要求书

1.一种信号波动分析方法，其特征在于，包括：

以第一滤波窗口值W₁采集W₁个电平强度测量值，计算W₁个电平强度测量值的第一平均值AVE₁，根据所述电平强度测量值计算标准方差系数V_σ1，其中，标准方差系数又叫相对标准偏差，为选择的电平强度测量值的标准方差与其算术平均值之比，又称为变异系数，通常用百分数表示：

其中，s为N个电平强度测量值的标准方差，x_i为第i次测量值，为N个电平强度测量值的算术平均值；

根据所述标准方差系数V_σ1、预先设定的信号波动上门限TH_up及信号波动下门限TH_lo计算下一次分析的第二滤波窗口值W₂；

根据所述第二滤波窗口值W₂采集W₂个电平强度测量值，计算W₂个电平强度测量值的第二平均值AVE₂，并计算再下一次分析的第三滤波窗口值W₃；

每一次分析的同时均重新计算下一次分析的滤波窗口值，以此类推。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，根据所述电平强度测量值计算标准方差系数V_σ1包括：

将预设的选择参数N与采集到的电平强度测量值的总个数进行比较，当N小于电平强度测量值的总个数时，选择N个最新的电平强度测量值计算标准方差系数V_σ1；

当N大于电平强度测量值的总个数时，选择所有的电平强度测量值计算标准方差系数V_σ1。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，根据所述标准方差系数V_σ1、预先设定的信号波动上门限TH_up及信号波动下门限TH_lo确定下一次分析的第二滤波窗口值W₂包括：

当TH_lo≤V_σ1≤TH_up时，将所述第一滤波窗口值W₁作为第二滤波窗口值W₂；

当V_σ1＞TH_up时，计算第二滤波窗口值W₂＝min(W₁+INC,W_max)，其中，INC为每次增大滤波窗口值的步长，W_max为预先设定的最大滤波窗口值；

当V_σ1＜TH_lo时，计算第二滤波窗口值为W₂＝max(W₁-RED,W_min)，其中，RED为每次减小滤波窗口值的步长，W_min为预先设定的最小滤波窗口值。

4.一种滤波窗口调整模块，其特征在于，包括：

第一计算子模块，用于根据电平强度测量值计算标准方差系数V_σ1，其中，标准方差系数又叫相对标准偏差，为选择的电平强度测量值的标准方差与其算术平均值之比，又称为变异系数，通常用百分数表示：

其中，s为N个电平强度测量值的标准方差，x_i为第i次测量值，为N个电平强度测量值的算术平均值；

第二计算子模块，用于根据所述标准方差系数V_σ1、预先设定的信号波动上门限TH_up及信号波动下门限TH_lo计算下一次分析的滤波窗口值W₂。

5.根据权利要求4所述的滤波窗口调整模块，其特征在于，还包括

比较子模块，用于将预设的选择参数N与采集到的电平强度测量值的总个数进行比较；

选择子模块，用于当N小于电平强度测量值的总个数时，选择N个最新的电平强度测量值来计算标准方差系数V_σ1；当N大于电平强度测量值的总个数时，选择所有的电平强度测量值来计算标准方差系数V_σ1。