[发明专利]一种大型构件三维空间剖面圆度检测方法有效

专利信息
申请号: 201210586551.1 申请日: 2012-12-28
公开(公告)号: CN103900528A 公开(公告)日: 2014-07-02
发明(设计)人: 朱志洁;彭飞;王中;吕井勇;杨帅;闵少松;张涛;王鹏;闫富玉 申请(专利权)人: 朱志洁
主分类号: G01C7/00 分类号: G01C7/00
代理公司: 武汉楚天专利事务所 42113 代理人: 雷速
地址: 430064 湖北省武汉市武*** 国省代码: 湖北;42
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摘要:
搜索关键词: 一种 大型 构件 三维空间 剖面 检测 方法
【权利要求书】:

1.一种大型构件三维空间剖面圆度检测方法,其特征是:按照如下步骤进行检测:

第一步、在待测剖面圆上设置多个待测的测量点标记,选择地点架设全站仪;

第二步、确立三维坐标轴x轴、y轴、z轴和坐标原点O,用全站仪测量待测点参数,计算出待测剖面圆上的每个待测点的三维坐标(xi,yi,zi);其中xi、yi、zi为所测出的测点在xyz坐标系中的三维坐标值;

第三步、利用所获得的测点三维坐标数据,以最小二乘法或特征值法计算平面方程A0x+B0y+C0z=D0的平面参数A0、B0、C0、D0,以此计算结果为基础,通过剔除测点中的异常点,获取最佳测点拟合平面的平面拟合方程参数A、B、C、D,以此平面作为圆形构件剖面圆度的评定平面;

第四步、将所有测点的坐标投影到评定平面上,依公式

x=A(D-Byi-Czi)+(1-A2)xiy=B(D-Axi-Czi)+(1-B2)yiz=C(D-Axi-Byi)+(1-C2)zi,]]>

可以得到各测点在评定平面上的投影点坐标(x,y,z);

第五步、以最小二乘法拟合圆,得到圆的最佳拟合半径和圆心:

ao=1nΣi=1nxibo=1nΣi=1nyi,]]>

获得所述评定平面的评定中心坐标值(ao,bo),代入下述公式:

Ri=(xi-ao)2+(yi-bo)2,]]>

得到测点到评定中心的距离Ri,以下述公式得到测点的径向初挠度fi的值:fi=Ri-Ro

式中Ro表示最佳拟合半径,以测点的径向初挠度fi的值评定剖面圆的圆度。

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