[发明专利]一种降低5A分子筛颗粒度的方法无效
| 申请号： | 201210585489.4 | 申请日： | 2012-12-28 |
| 公开（公告）号： | CN103007877A | 公开（公告）日： | 2013-04-03 |
| 发明（设计）人： | 常云峰;张福丽 | 申请（专利权）人： | 天津众智科技有限公司 |
| 主分类号： | B01J20/18 | 分类号： | B01J20/18;B01J20/30;B01J20/28;B01D53/047 |
| 代理公司： | 天津盛理知识产权代理有限公司 12209 | 代理人： | 王来佳 |
| 地址： | 300457 天津市*** | 国省代码： | 天津;12 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 降低 分子筛 颗粒 方法 | ||
【权利要求书】：
1.一种降低5A分子筛颗粒度的方法，其特征在于：步骤如下：
⑴将5A分子筛分散至分散剂内，制成分子筛悬浮液，控制固含量在30-60%重量百分比；
⑵选择研磨介质，本发明使用的研磨介质的粒径为0.5-2.5mm；
⑶设置研磨机参数，转速为1000-5000r/min，时间1-60min；
⑷将分子筛悬浮液、研磨介质加入研磨机，研磨即得。
2.根据权利要求1或2所述的降低5A分子筛颗粒度的方法，其特征在于：所述研磨介质的粒径为1mm。
3.根据权利要求1或2所述的降低5A分子筛颗粒度的方法，其特征在于：在步骤⑴之前还在5A分子筛中加入孔道支撑剂。
4.根据权利要求1或2所述的降低5A分子筛颗粒度的方法，其特征在于：所述孔道支撑剂加入量为10-50%重量百分比。
5.根据权利要求1或2所述的降低5A分子筛颗粒度的方法，其特征在于：所述步骤⑸研磨后的5A分子筛颗粒度为2-3微米。
6.根据权利要求1或2所述的降低5A分子筛颗粒度的方法，其特征在于：所述步骤⑸研磨后的5A分子筛颗粒度为2.3或2.9微米。
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