[发明专利]一种磁共振成像匀场方法有效
申请号: | 201210584671.8 | 申请日: | 2012-12-28 |
公开(公告)号: | CN103901373A | 公开(公告)日: | 2014-07-02 |
发明(设计)人: | 蔡昆玉 | 申请(专利权)人: | 上海联影医疗科技有限公司 |
主分类号: | G01R33/3875 | 分类号: | G01R33/3875 |
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地址: | 201815 上海市嘉*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 磁共振 成像 方法 | ||
1.一种磁共振成像匀场方法,包括以下步骤:
选定扫描序列对被成像组织扫描,获得磁共振信号,进行图像重建;
根据重建的图像计算Harmonic系数;
使用Harmonic系数控制匀场线圈对磁场进行补偿;
其特征在于,所述Harmonic系数的计算方法包括以下步骤:
a)根据阈值将图像分为可靠区域、非可靠区域和背景区域;
b)根据可靠区域内的像素点对非可靠区域内的像素点进行插值计算,得到包括可靠区域和非可靠区域内所有像素点的缠绕相位图;
c)以解缠种子点作为相位解缠的起始点,对所述缠绕相位图作相位解缠,得出以解缠种子点为参考点的Harmonic系数;
d)将以解缠种子点为参考点的Harmonic系数转换为以磁体中心为参考点的Harmonic系数。
2.如权利要求1所述的磁共振成像匀场方法,其特征在于,所述扫描序列为双回波GRE序列。
3.如权利要求1所述的磁共振成像匀场方法,其特征在于,所述可靠区域内的缠绕相位图按照以下计算公式获取:
式中,I1为第一个回波信号的像素点,I2为第二个回波信号的像素点,A为像素点的幅值,为像素点的相位,PhaseMap0为可靠区域的相位差图,表示每一个像素点的缠绕相位。
4.如权利要求3所述的磁共振成像匀场方法,其特征在于,所述像素点的幅值A依据如下公式计算:根据像素点幅值A计算Ostu自适应阈值得到所述阈值,其中,A1和A2分别为两个回波信号的幅值。
5.如权利要求1所述的磁共振成像匀场方法,其特征在于,所述插值计算方法可以为线性插值法或B样条插值法或薄板样条插值法或三次样条插值法。
6.如权利要求1所述的磁共振成像匀场方法,其特征在于,使用路径搜索法对所述缠绕相位图作所述相位解缠。
7.如权利要求1所述的磁共振成像匀场方法,其特征在于,所述Harmonic系数可以通过以下公式获取:
式中:为磁场的不均匀性,为所述相位图中的像素点的相位差,r为旋磁比,ΔTE为两个回波的时间差,为极坐标形式的空间点坐标,R0为匀场相对半径,是连带勒让德函数,Anm和Bnm为Harmonic系数。如权利要求1所述的磁共振成像匀场方法,其特征在于,所述将以解缠种子点为参考点的Harmonic系数转化为以磁体中心为参考点的Harmonic系数的可以通过以下公式获取:
A20=A′20
A21=A′21
A22=A′22
B21=B′21
B22=B′22
式中:xs,ys,,zs)为所述解缠种子点,以解缠种子点为参考点的Harmonic系数为A'10、A'11、B'11、A'20、A'21、A'22、B'21、B'22;以磁场中心为参考点的Harmonic系数为
A10、A11、B11、A20、A21、A22、B21、B22;
此计算公式适用于解缠绕种子点与磁体中心不存在旋转的情况,如果解缠绕种子点与磁体中心存在旋转,则所述Harmonic系数的转换公式需要修正。
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