[发明专利]一种磁共振成像匀场方法有效

专利信息
申请号: 201210584671.8 申请日: 2012-12-28
公开(公告)号: CN103901373A 公开(公告)日: 2014-07-02
发明(设计)人: 蔡昆玉 申请(专利权)人: 上海联影医疗科技有限公司
主分类号: G01R33/3875 分类号: G01R33/3875
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 201815 上海市嘉*** 国省代码: 上海;31
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 一种 磁共振 成像 方法
【权利要求书】:

1.一种磁共振成像匀场方法,包括以下步骤:

选定扫描序列对被成像组织扫描,获得磁共振信号,进行图像重建;

根据重建的图像计算Harmonic系数;

使用Harmonic系数控制匀场线圈对磁场进行补偿;

其特征在于,所述Harmonic系数的计算方法包括以下步骤:

a)根据阈值将图像分为可靠区域、非可靠区域和背景区域;

b)根据可靠区域内的像素点对非可靠区域内的像素点进行插值计算,得到包括可靠区域和非可靠区域内所有像素点的缠绕相位图;

c)以解缠种子点作为相位解缠的起始点,对所述缠绕相位图作相位解缠,得出以解缠种子点为参考点的Harmonic系数;

d)将以解缠种子点为参考点的Harmonic系数转换为以磁体中心为参考点的Harmonic系数。

2.如权利要求1所述的磁共振成像匀场方法,其特征在于,所述扫描序列为双回波GRE序列。

3.如权利要求1所述的磁共振成像匀场方法,其特征在于,所述可靠区域内的缠绕相位图按照以下计算公式获取:

式中,I1为第一个回波信号的像素点,I2为第二个回波信号的像素点,A为像素点的幅值,为像素点的相位,PhaseMap0为可靠区域的相位差图,表示每一个像素点的缠绕相位。

4.如权利要求3所述的磁共振成像匀场方法,其特征在于,所述像素点的幅值A依据如下公式计算:根据像素点幅值A计算Ostu自适应阈值得到所述阈值,其中,A1和A2分别为两个回波信号的幅值。

5.如权利要求1所述的磁共振成像匀场方法,其特征在于,所述插值计算方法可以为线性插值法或B样条插值法或薄板样条插值法或三次样条插值法。

6.如权利要求1所述的磁共振成像匀场方法,其特征在于,使用路径搜索法对所述缠绕相位图作所述相位解缠。

7.如权利要求1所述的磁共振成像匀场方法,其特征在于,所述Harmonic系数可以通过以下公式获取:

式中:为磁场的不均匀性,为所述相位图中的像素点的相位差,r为旋磁比,ΔTE为两个回波的时间差,为极坐标形式的空间点坐标,R0为匀场相对半径,是连带勒让德函数,Anm和Bnm为Harmonic系数。如权利要求1所述的磁共振成像匀场方法,其特征在于,所述将以解缠种子点为参考点的Harmonic系数转化为以磁体中心为参考点的Harmonic系数的可以通过以下公式获取:

A10=A10-2zsA20-152xsA21-152ysB21]]>

A11=A11+A20xs-5zsA21-5xsA22-5ysB22]]>

B11=B11+A20ys-5zsB21-5ysA22-5xsB22]]>

A20=A′20

A21=A′21

A22=A′22

B21=B′21

B22=B′22

式中:xs,ys,,zs)为所述解缠种子点,以解缠种子点为参考点的Harmonic系数为A'10、A'11、B'11、A'20、A'21、A'22、B'21、B'22;以磁场中心为参考点的Harmonic系数为

A10、A11、B11、A20、A21、A22、B21、B22

此计算公式适用于解缠绕种子点与磁体中心不存在旋转的情况,如果解缠绕种子点与磁体中心存在旋转,则所述Harmonic系数的转换公式需要修正。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于上海联影医疗科技有限公司,未经上海联影医疗科技有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201210584671.8/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top