[发明专利]一种显示装置的测试电路

说明书

技术领域

本发明涉及显示装置测试领域，尤其涉及一种显示装置的测试电路。

背景技术

液晶显示器的测试电路中，视觉测试和像素阵列测试分别采用独立的开关信号，在进行视觉测试时，用于控制像素阵列测试的阵列测试的分路开关处于悬空状态。如图1所示，测试电路包括阵列测试电路1，阵列测试电路与像素阵列4连接，其中阵列测试电路1包括复数个集成电路元件IC（Integrate Circuit）或柔性线路板FPC衬垫2，及与其对应的复数个分路开关3；IC或FPC衬垫2与分路开关3一一对应连接，用于通过输入电源信号控制分路开关的断开或闭合。由于测试电路在视觉测试时（视觉测试电路未在图中示出），分路开关3处于悬空状态，因此视觉测试时易受外界信号干扰，影响判定结果；而且在正常工作时，为了输入电源信号关断所有分路开关3，需要IC或FPC需引出多个IC或FPC衬垫2，这种情况无疑会增加选材难度。

发明内容

本发明的目的是提供一种示装置像素阵列的测试电路，以解决现有技术中的测试电路，在阵列测试的分路开关悬空的问题；以及，显示器正常工作时由IC或FPC引出多个电源信号衬垫较多的问题。

本发明的目的是通过以下技术方案实现的：本发明较佳的实施例提供一种显示装置的测试电路，包括：多个阵列测试电路、一视觉测试控制电路，所述阵列测试电路包括多个CMOS传输门、多个分路开关；所述CMOS传输门的输入端与电源信号连接，输出端与所述分路开关连接，第一控制端与第二控制端分别与所述视觉测试控制电路的输出信号及所述视觉测试控制电路输出信号的反信号连接；所述视觉测试控制电路，用于在视觉测试时通过所述CMOS传输门控制所述分路开关断开。

所述视觉测试控制电路的输出信号一方面直接与所述第一控制端及第二控制端中的一个连接，另一方面通过非门与所述第一控制端及第二控制端中的另一个连接。

显示装置的测试电路还包括：一阵列测试控制电路，所述阵列测试控制电路的输出信号及该输出信号的反信号分别与所述CMOS传输门的第二控制端与第一控制端连接；所述阵列测试控制电路，用于在阵列测试时通过所述CMOS传输门控制所述分路开关闭合。

所述阵列测试控制电路的输出信号一方面直接与所述CMOS传输门的第一控制端及其第二控制端中的一个连接，另一方面通过非门与所述CMOS传输门的第一控制端及其第二控制端中的另一个连接。

显示装置的测试电路还包括：工作控制电路，所述工作控制电路的输出信号及该输出信号的反信号分别与所述CMOS传输门的第一控制端及第二控制端连接；所述工作控制电路，用于在所述显示装置工作时通过所述CMOS传输门控制所述分路开关断开。

所述工作控制电路的输出信号一方面直接与所述CMOS传输门的第一控制端及其第二控制端中的一个连接，另一方面通过非门与所述CMOS传输门的第一控制端及其第二控制端中的另一个连接。

所述CMOS传输门的第一控制端为N管控制端，第二控制端为P管控制端，所述分路开关为N沟道增强型场效应管或P沟道耗尽型场效应管；或所述CMOS传输门的第一控制端为P管控制端，第二控制端为N管控制端，所述分路开关为N沟道耗尽型场效应管或P沟道增强型场效应管。

本发明实施例有益效果如下：通过以CMOS传输门代替测试电路中的IC或FPC引出的电源信号衬垫，使得在视觉测试时，阵列测试电路的分路开关不悬空，因此测试电路不会受外界干扰，从而保证测试结果的准确性；而且减少了由IC或FPC引出的电源信号衬垫的数量，降低设计中对IC或FPC选材的难度。

附图说明

图1为现有技术中测试电路的局部示意图；

图2A为本发明实施例一中所述测试电路的局部示意图；

图2B为本发明实施例一中所述CMOS传输门的放大示意图；

图3为本发明实施例二中所述测试电路的局部示意图；

图4为本发明实施例三中所述测试电路的局部示意图；

图5为本发明实施例四中所述测试电路的局部示意图。

具体实施方式

下面结合说明书附图对本发明实施例的实现过程进行详细说明。

本发明实施例一，提供一种显示装置的测试电路，如图2A所示，包括多个阵列测试电路100、一视觉测试控制电路200，阵列测试电路100包括多个CMOS传输门101、多个分路开关102；其中参考图2B示出的CMOS传输门101的放大示意图，CMOS传输门101包括输入端1011、输出端1012、第一控制端1013和第二控制端1014。