[发明专利]一种电子元器件参数测试装置

说明书

技术领域

本发明设计一种电子元器件参数测试技术领域，尤其涉及一种能够快速进行电子元器件关键参数测试的装置及方法。 

背景技术

随着电子元器件特别是集成电路的不断发展，电子元器件管脚数量不断增加、功能不断复杂化、封装形式多样化，这些都给电子元器件的测试带来了很多新的挑战。目前电子元器件测试是一项非常复杂而且庞大的系统工程，这需要硬件、软件和人员之间相互协作才能够实现电子元器件的参数测试。目前元器件的测试都是采用了大型测试系统，测试系统一般都需要占用一间房间或者更大的空间，测试系统的售价一般都在1000万人民币以上，使用一个小时的费用在2000人民币左右，编写一个集成电路的测试程序一般的周期为一个月，因此如果只采用大型测试系统对电子元器件的关键参数进行测试的费用和时间都是很大的一个消耗。 

其实作为用户而言，电子元器件的生产厂在器件出厂时已经进行过完整的参数测试和功能考核了，生产厂已经采用大型测试系统对集成电路的参数和功能进行了完整的测试。作为用户仅仅需要对电子元器件的关键参数和功能进行测试，特别是怀疑电子元器件存在某些功能异常或者发生失效时，一种快速、便捷且廉价的电子元器件测试手段对用户或者电子元器件失效分析人员来说就显得非常必要了。 

但是，目前采用的都是电子元器件测试系统全参数测试，并结合图示仪进行I-V的方法进行电子元器件关键参数测试的。对于复杂电子元器件测试系统测试，针对失效或异常电子元器件的测试程序基本上都需要进行重新开发，并且这种测试基本上都是一次性的，因此测试系统测试的周期长、费用大，并且复用几率低。另一方面I-V特性曲线测试仅能测试器件两个管脚之间的测试电流电压曲线，无法将元器件固定在某种偏置或工作状态下。 

  

发明内容

为解决上述现有技术中存在的缺陷，本发明提供了一种能快速进行电子元器件关键参数测试的装置及方法。 

为达到目的，本发明采用了如下技术方案： 

一种电子元器件参数测试装置，包括中央处理器，控制单元，电平转换单元，电压、电流检测单元和人机交互单元，其特征在于：

中央处理器，分别与人机交互单元和控制单元连接，用于测试激励的载入、状态数据的分析和与人机交互单元进行交互；

控制单元，分别与存储单元、电压、电流检测单元和电平转换单元连接，用于实现激励信号的生成、调整和输出，采集被测芯片的输出信号，检测激励及采样信号的电压和电流信息，并调整被测芯片的供电电压；

电平转换单元，分别与控制单元和被测芯片连接，用于将控制单元发出的测试激励信号转换为实际施加在被测芯片上的信号；

电压、电流检测单元，分别与控制单元和被测芯片连接，用于将采集到的被测芯片的电压电流信息发送给控制单元。

作为优选，所述测试装置还包括存储单元，该存储单元包括SSD存储模块和DDR数据缓冲区。 

作为优选，所述中央处理器为x86处理器，采用SOM/COM架构核心板，外扩SSD作为数据存储器，并通过PCI总线及UART两种连接方式同时与控制单元进行通信，其中PCI总线用于对控制单元发出激励生成控制，UART用于从控制单元获取监控数据。 

作为优选，所述控制单元为FPGA。 

作为优选，所述电平转换单元以32路信号为一组，分组进行信号方向和信号电平的设置。 

作为优选，所述电平转换单元还包括有信号保护电路。 

作为优选，所述电压、电流检测单元中有检流电阻。 

作为优选，所述测试装置还包括有测试电源和双保护电路，所述测试电源用于为被测芯片供电，所述双保护电路用于提供两级的过流保护。 

作为优选，所述双保护电路包括过流检测保护电路和自恢复保险丝。 

一种电子元器件参数测试方法，该方法采用如上所述的测试装置，其特征在于，包括以下步骤： 

步骤一：配置基础资源，根据被测芯片的引脚设定和转接板情况选择电源供给电压、IO方向及IO电平标准，并根据测试项目连接电流检测电路；

步骤二：测试形式选择，所述形式包括有单步测试、连续测试和扩展测试；

步骤三：输入测试激励，根据测试形式，选择导入真值表或手工输入真值表，导入波形文件的方式输入测试激励；

步骤四：获取并输出测试结果。

作为优选，所述步骤三中的导入的真值表为CSV格式真值表，所述波形文件为CSV格式或VCD格式的波形文件。