[发明专利]一种调试中央处理器死机的方法和系统在审

专利信息
申请号: 201210577051.1 申请日: 2012-12-26
公开(公告)号: CN103902423A 公开(公告)日: 2014-07-02
发明(设计)人: 赵远 申请(专利权)人: 联芯科技有限公司
主分类号: G06F11/30 分类号: G06F11/30
代理公司: 上海思微知识产权代理事务所(普通合伙) 31237 代理人: 石湘波
地址: 201206 上*** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 一种 调试 中央处理器 死机 方法 系统
【说明书】:

技术领域

发明涉及通信技术领域,特别涉及一种调试中央处理器死机的方法和系统。 

背景技术

中央处理器(Central Processing Unit,CPU)是一台计算机的运算核心和控制核心。中央处理器、内部存储器和输入/输出设备是计算机的三大核心部件。中央处理器的功能主要是解释计算机指令以及处理计算机软件中的数据。中央处理器由运算器、控制器和寄存器以及实现他们之间联系的数据、控制和状态的总线构成。中央处理器的运作原理分为四个阶段:提取、解码、执行和写回。中央处理器从内部存储器中取出指令,放入指令寄存器后对指令译码,最后执行指令。 

仿真器,又被叫做模拟器,是指某一系统复现另一系统。仿真器通常分为硬件仿真和软件仿真。硬件仿真使用附加的硬件来替代用户系统的单片机并完成单片机全部或大部分的功能。硬件仿真使用了附加硬件后用户就可以对程序的运行进行控制,例如单步,全速,查看资源断点等。软件仿真使用计算机软件来模拟运行,用户不需要搭建硬件电路就可以对程序进行验证,特别适合于偏重算法的程序。软件仿真的缺点是无法完全仿真与硬件相关的部分,因此最终还要通过硬件仿真来完成最终的设计。 

联合测试行动小组(Joint Test Action Group,JTAG)是一种国际标准测试协议(IEEE1149.1兼容),主要用于芯片内部测试。现在多数的高级器件都支持JTAG协议,如数字信号处理(DSP)、现场可编程门阵列(FPGA)等。标准的JTAG接口是4线:测试模式选择(TMS)、测试时钟输入(TCK)、测试数据输入(TDI)、测试数 据输出(TDO)。 

在现有技术中,当中央处理器死机时,目前主要采用通过JTAG接口接仿真器的方法调试CPU死机现场。但是现有技术中大部分手机并没有JTAG接口,无法接入仿真器进行调试,而有些手机具有JTAG接口,部分死机现场也无法接入仿真器进行调试。进一步的,即使可以接入仿真器,但仿真器价格昂贵,资源紧缺。 

发明内容

本发明的目的在于提供一种调试中央处理器死机的方法和系统以解决现有技术中当中央处理器死机时,大部分手机并没有JTAG接口,无法接入仿真器进行调试,而有些手机具有JTAG接口,部分死机现场也无法接入仿真器进行调试的问题。 

为解决上述技术问题,本发明提供: 

一种调试中央处理器死机的系统,包括: 

第一中央处理器,所述第一中央处理器包含计数器,所述计数器用于进行倒计数; 

重置模块,所述重置模块与所述第一中央处理器连接,用于当所述计数器计数到零时,通知所述计数器进行重置,所述重置模块判断所述计数器是否完成重置,若完成重置,说明所述第一中央处理器正常运行,若未完成重置,说明所述第一中央处理器异常死机,则所述重置模块向一第二中央处理器发送一启动指令; 

第二中央处理器,用于当接收到所述启动指令后对所述第一中央处理器进行调试。 

可选的,在所述的调试中央处理器死机的系统中,所述第二中央处理器的初始状态为睡眠状态,所述启动指令为睡眠唤醒指令,所述第二中央处理器当接收到所述启动指令后对所述第一中央处理器进行调试。 

可选的,在所述的调试中央处理器死机的系统中,所述计数器的计数时间为10秒。 

可选的,在所述的调试中央处理器死机的系统中,所述计数器为硬件看门狗。 

可选的,在所述的调试中央处理器死机的系统中,所述第一中央处理器位于一手机上,所述第二中央处理器位于一计算机上,所述手机通过一USB转串口线与所述计算机连接。 

可选的,在所述的调试中央处理器死机的系统中,所述第二中央处理器通过一超级终端获取输入命令,并所述输入命令对所述第一中央处理器进行调试。 

同时,本发明还提供一种调试中央处理器死机的方法,使用所述的调试中央处理器死机的系统,包括: 

开启第一中央处理器; 

第一中央处理器的计数器进行倒计数; 

当所述计数器计数到零时,重置模块通知所述计数器进行重置; 

所述重置模块判断所述计数器是否完成重置,若完成重置,说明所述第一中央处理器正常运行,若未完成重置,说明所述第一中央处理器异常死机,则所述重置模块向一第二中央处理器发送一启动指令; 

当接收到所述启动指令后,第二中央处理器对所述第一中央处理器进行调试。 

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