[发明专利]帘幕式快门曝光均匀性检测装置

说明书

技术领域

本发明涉及航空航天成像技术领域，具体涉及一种帘幕式快门曝光均匀性检测装置。

背景技术

随着CCD器件的发展，面阵CCD器件已成为航空航天成像介质的一个重要方向。由于面阵CCD器件本身的特性，其作为成像介质时必须有机械式快门的配合才能完成正常曝光成像。

目前，常用的机械式快门有两种：中心式快门和帘幕式快门，在面阵CCD相机中，通常采用帘幕式快门。由于帘幕式快门帘缝运动速度快，帘缝缝隙宽度范围大，其面阵CCD相机的曝光均匀性的检测比较困难。目前，对于曝光均匀性检测采用的是一种简易检测装置，它是利用点光源发出的光通过快门帘缝直接在光电池上感光，再用示波器测量出光电池的输出信号波形，由于该简易检测装置未对点光源做任何处理，导致各个点光源发出的光亮度很难保持一致，同时，光电池也未进行合理的设计，由于点光源的发散角较大，发射的发散光在单位面积的辐射量不一致，光电池感光量不能保持集中和一致，对光电池感光产生不利的影响，导致检测效果较差，测试结果的稳定性和一致性很难保证。

发明内容

为了解决现有的简易检测装置无法满足对帘幕式快门曝光均匀性检测的问题，本发明提供一种帘幕式快门曝光均匀性检测装置。

本发明为解决技术问题所采用的技术方案如下：

帘幕式快门曝光均匀性检测装置，包括：

暗箱；

与所述暗箱外部上端相连的控制电路板；

固定在所述暗箱外部下端的快门释放钮；

安装在所述暗箱内部下端的快门；

还包括：安装在所述暗箱内部的光源组件和光电池组件；

所述光源组件包括：与所述控制电路板相连的遮光罩，所述遮光罩内部下端设置有带有通孔的第一支撑板；

位于所述遮光罩内部并固定在所述控制电路板上的光源；

固定在所述第一支撑板通孔位置的准直透镜，所述准直透镜安装在所述光源下端；

所述光电池组件包括：固定在所述暗箱内部下端的侧板，所述侧板内部下端设置有第二支撑板；

与所述侧板固定相连的盖板，所述盖板上设置有钢片狭缝，所述钢片狭缝安装在所述准直透镜下端；

固定所述第二支撑板上的光电池；

所述快门安装在所述光源组件与所述光电池组件之间位置。

所述光源组件还包括位于所述遮光罩外部并与所述控制电路板相连的亮度调节电位计。

所述光源包括依次安装在所述控制电路板上的前光源、中光源和后光源。

所述准直透镜包括依次安装在所述第一支撑板上的前光源准直透镜、中光源准直透镜和后光源准直透镜。

所述钢片狭缝包括依次设置在所述盖板上的前光电池钢片狭缝、中光电池钢片狭缝和后光电池钢片狭缝。

所述光电池包括依次安装在所述第二支撑板上的前光电池、中光电池和后光电池。

所述光源采用高亮度单色LED灯。

本发明的有益效果是：本发明利用光源组件上的三个光源发出的光分别对准光电池组件上的三个钢片狭缝，通过测试光电池组件上的三个光电池输出信号的脉冲宽度即可测出被测快门的曝光时间，对被测快门不同速度下不同位置的曝光时间进行多次测量，从而准确的测量出快门整体曝光均匀性。本发明的帘幕式快门曝光均匀性检测装置结构简单，容易实现，空间尺寸可依据快门幅面大小进行调整，方便、灵活检测精度高的检测装置，能够满足画幅式帘幕式快门曝光均匀性检测的要求。

附图说明

图1为现有的简易检测装置的结构示意图；

图2为本发明的帘幕式快门曝光均匀性检测装置的结构示意图；

图3为本发明的帘幕式快门曝光均匀性检测装置中光源组件的结构示意图；

图4为图3中的左视图；

图5为本发明的帘幕式快门曝光均匀性检测装置中光电池组件结构示意图；

图6为图5中的左视图。

图中：1、暗箱，2、控制电路板，3、快门释放钮，4、快门，5、遮光罩，6、第一支撑板，7、光源，8、准直透镜，9、侧板，10、第二支撑板，11、盖板，12、钢片狭缝，13、光电池，14、亮度调节电位计，15、前光源，16、中光源，17、后光源，18、前光源准直透镜，19、中光源准直透镜，20、后光源准直透镜，21、前光电池钢片狭缝，22、中光电池钢片狭缝，23、后光电池钢片狭缝，24、前光电池，25、中光电池，26、后光电池。

具体实施方式

以下结合附图对本发明作进一步详细说明。