[发明专利]基于Kubelka-Munk理论计算颜料遮盖力的方法有效

专利信息
申请号: 201210561631.1 申请日: 2012-12-04
公开(公告)号: CN103543105A 公开(公告)日: 2014-01-29
发明(设计)人: 王荣强 申请(专利权)人: 王荣强
主分类号: G01N21/25 分类号: G01N21/25
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 315332 浙*** 国省代码: 浙江;33
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摘要:
搜索关键词: 基于 kubelka munk 理论 计算 颜料 遮盖 方法
【说明书】:

技术领域

发明涉及一种颜料遮盖力的计算方法,具体是涉及一种基于Kubelka-Munk理论的计算颜料遮盖力的新方法。

背景技术

随着工业技术的高速发展,颜料作为着色剂已经广泛地应用于人们的日常生活制品中,如油墨、油漆、塑料制品等。对于颜料特性的检测是十分重要的。颜料的特性包括很多方面,如色相、着色力、耐光性、耐候性等。颜料的遮盖力作为其中一项物理特性也常常出现在颜料的技术规范表中。

颜料遮盖力定义为颜料在某一浓度下遮盖被涂基底颜色的能力,是对入射光吸收和散射的综合结果。遮盖力的单位为m2/L,表示使人眼观察到的基底上的对比度刚好消失时所对应的膜层厚度的倒数,或者采用g/m2为单位,表示达到遮盖时单位面积的颜料用量。需要说明的是,所有的遮盖力计算都是相对于某一颜料浓度而言的。

目前,我国的国家标准GB1726-1979采用的是黑白格板法,即将颜料和调墨油研磨成色浆均匀的涂刷于黑白格玻璃板上,使黑白格恰好被遮盖的最小颜料量,采用g/m2为指标。

国际上,最主要有两种检测颜料遮盖力的标准,美国的ASTM2805和德国的DIN55978。ASTM2805和DIN55978均需要在黑/白基底上制作多个不同膜层厚度的颜料样本。ASTM2805以在相同膜层厚度下,测得的黑基底和白基底的CIE Y值的对比率为0.98时的膜层厚度作为遮盖厚度,即YK/YW=0.98,且主要针对白色涂料的遮盖力检测;而DIN55978以在相同膜层厚度下,测得的黑基底和白基底的CIELAB色差等于1作为临界值,表示完全遮盖,即ΔE*ab=1。

GB1726-1979该方法比较简单、易操作,但需要多次制作样本、测试时间长、误差大;ASTM2805和DIN55978由于采用仪器测量,所以结果比较客观、精度高,但均需制作多个样本、测试时间长。至今为止,还没有一种测试时间短且结果客观,精度高的颜料遮盖力的检测方法。

发明内容

本发明为了解决背景技术中所述的问题,公开了一种简单、易操作、精度高的基于Kubelka-Munk理论的计算颜料遮盖力的方法。

具体步骤如下:

1)将所需测量遮盖力的颜料和应用体系中其他组分(如树脂、添加剂等)按照该应用体系通用的方法进行研磨混合,假定颜料的质量百分比为n%,即颜料的质量与应用体系中其他组分的质量之比为n%;

2)选择颜料检测中常用的黑/白卡纸,其包含黑基底和白基底,用积分球式分光光度计对黑基底和白基底进行测量分别得到光谱Rλ,K和Rλ,W,其中下标λ表示测量波长,下标K表示黑基底,下标W表示白基底;

3)选用一涂布机或K Bar将步骤1)中所得的颜料和其他组分的混合液涂于黑/白卡纸上,经自然干燥或烘干制得某一膜层厚度下的颜料涂层;

4)用相应的测量仪对制得的颜料涂层进行膜层厚度测量,测得的结果记为h;

5)用积分球式分光光度计对涂在黑基底和白基底上的颜料涂层进行测量分别得到光谱Rλ,K,T和Rλ,W,T,其中下标T表示对基底上的颜料涂层进行测量得到的光谱;

6)对测得的Rλ,K、Rλ,W、Rλ,K,T和Rλ,W,T进行Saunderson修正分别得到修正后的光谱R*λ,K、R*λ,W、R*λ,K,T和R*λ,W,T,Saunderson修正公式如下:

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