[发明专利]磁体电学中心定位方法

说明书

【技术领域】

本发明涉及磁共振领域，尤其涉及在磁共振系统中磁体电学中心的定位方法。

【背景技术】

磁共振设备中，磁体在制作的过程中，实际电学中心往往会偏离磁体几何中心(制作时一般设定磁体几何中心为磁体的电学中心)，能否准确定位磁体电学中心对系统的均匀度有很大的影响，同时梯度线圈、体线圈等部件也需要根据磁体电学中心进行定位，因此磁体的实际电学中心是很重要的参数，需要对其进行准确定位。

现有技术中，对磁体电学中心的测量是通过如下方法进行的：将分布着一定数量探头的测量面板放入磁体中，按固定角度旋转测量面板，每旋转一次测量面板测得一组磁场分布，旋转360度(即一周)后，便能得到一个完整的球面上的磁场分布；根据磁场分布计算某些特征量，若该特征量的数值在一定数值范围以内，则此时测量区域的中心为磁体电学中心，否则将根据该特征量的数值向前或向后移动测量面板，重新旋转测量面板测量球面上的磁场分布，再次计算特征值进行判断，直到找到磁体电学中心为止。

由于每对一个位置测量球面上的磁场分布，都需要多次旋转测量面板，上述测量方法大大增加了测试时间，提高了测试成本。另一方面，整个测量磁体电学中心的过程中，旋转和移动测量面板都是通过人工操作进行的，过多的人工操作将带来操作复杂性，降低测量结果的精度。

【发明内容】

为了解决现有技术中，磁体电学中心测试过程繁琐，测试结果精度低的问题，本发明提供了一种磁体电学中心的定位方法，

一种磁体电学中心定位方法，包括如下步骤：

S10)测量以磁体几何中心O为球心、R₀为半径的第一球面上n个点的磁场强度值B_n；

S11)将所述磁场强度值B_n、所述第一球面上n个点在以磁体几何中心O为原点的坐标系中的值(γ_n，θ_n代入公式计算出谐函数系数A_lm及B_lm；

S12)距离磁体几何中心O预定范围内，沿X轴、Y轴或Z轴选取点O₁，将以所述点O₁为球心、R₁为半径的第二球面上的n个点在以磁体几何中心O为原点的坐标系中的值所述第二球面上多个点距离磁几何中心O的距离r_n以及所述谐函数系数A_lm及B_lm代入公式计算出所述第二球面上n个点的磁场强度B′_n；

S13)将所述磁场强度B′_n、所述第二球面上n个点在以点O₁为原点的坐标系中的值代入公式计算出谐函数系数A′_lm及B′_lm；

S14)从所述谐函数系数A′_lm或B′_lm中选取特征项，判断所述特征项是否位于阈值范围内；

S15)若是，则所述点O₁即为磁体电学中心，若否，重新执行步骤S12～S14。

可选的，所述步骤S11之后还包括：

S16)从所述谐函数系数A_lm或B_lm中选取特征项，判断所述特征项是否位于阈值范围内；

S17)若是，则所述磁体几何中心O即为磁体电学中心，若否，则执行步骤S12。

可选的，所述预定范围为±10mm之内。

可选的，所述若选取Z轴方上的点，则所述特征项为A′_13，0、A′_15，0或A′_17，0。

可选的，所述若选取X轴方上的点，则所述特征项为A′_13，1、A′_15，1或A′_17，1。

可选的，所述若选取Y轴方上的点，则所述特征项为B′_13，1、B′_15，1或B′_17，1。

可选的，所述阈值范围为±5.00E-07之内。

可选的，所述R₀与R₁的差值绝对值要大于所述磁体几何中心O以及选取的点O₁之间的距离L₁。

可选的，所述第一球面上n个点的数量与所述第二球面上n个点的数量均为480。