[发明专利]光单边带调制方法、调制器及光器件测量装置、测量方法

权利要求书

1.一种光单边带调制方法，其特征在于，将光载波分为两路，对于其中一路，先进行抑制偶阶边带的光强度调制，然后从得到的光强度调制信号中滤出一个一阶边带信号，最后将滤出的一阶边带信号与另一路光载波合并，得到最终的光单边带调制信号。

2.一种使用如权利要求1所述调制方法的光单边带调制器，其特征在于，包括：

光分束器，用于将光源输出的光载波分为两路；

微波源，用于输出微波信号；

光强度调制器，其光输入端、微波输入端分别与所述光分束器的一个输出端、微波源的输出端连接，用于对输入的光载波进行抑制偶阶边带的光强度调制；

光滤波器，其输入端与所述光强度调制器的输出端连接，用于从光强度调制器输出的光强度调制信号中滤出一个一阶边带信号；

光合束器，其输入端分别与所述光分束器的另一个输出端以及所述光滤波器的输出端连接。

3.如权利要求2所述光单边带调制器，其特征在于，所述光强度调制器包括马赫-增德尔调制器、偏置电压源，马赫-增德尔调制器的微波输入端、偏置输入端分别与所述微波源的输出端、偏置电压源的输出端连接，马赫-增德尔调制器的光输入端、输出端分别与所述光分束器的一个输出端、所述光滤波器的输入端连接。

4.一种光器件测量装置，包括光源、主控单元、可进行微波扫频调制的光单边带调制器、光电探测器、微波幅相接收机，其特征在于，所述光单边带调制器为权利要求2或3所述光单边带调制器，其中的微波源为微波扫频源。

5.如权利要求4所述光器件测量装置的光器件测量方法，其特征在于，将待测光器件接入所述光滤波器与光合束器之间；主控单元控制微波扫频源输出扫频的微波信号，并以微波扫频源的输出信号为参考，利用微波幅相接收机提取光电探测器输出信号中所携的待测光器件的传输函数；然后利用预先测得的未接入待测光器件时的系统传输函数对其进行校正，得到待测光器件的准确的传输函数。