[发明专利]一种微波暗室性能测量方法

权利要求书

1.一种微波暗室性能测量方法，其特征在于：采用微波暗室性能测量系统，系统包括测试台架和控制设备，其中测试台架包括用于升降和旋转发射天线的发射天线台架，以及用于在三维空间内移动和旋转接收天线的接收天线台架；控制设备包括处理器、激光测距传感器、控制测试台架中各运动部件运动的步进电机、信号源和信号接收装置；激光测距传感器设置在控制测试台架上用于获得发射天线和接收天线的具体位置信息，并传输给处理器；处理器通过步进电机驱动器驱动各步进电机、驱动信号源控制发射天线发射信号、通过信号接收装置接收接收天线的信号、并对发射和接收的数据进行分析处理； 

将发射天线、发射天线台架和信号源设置在微波暗室的发射区域，将接收天线、接收天线台架和信号接收装置设置在微波暗室静区位置；

根据微波暗室性能分析试验的需要，设置所需测量的静区参数、测量频率、信号源功率、接收天线的扫描轨迹和运动速度、收发天线的旋转方向和旋转速度；

根据所设置的信号源功率驱动信号源，根据所设置的接收天线的扫描轨迹和运动速度、及收发天线的旋转方向和旋转速度驱动各步进电机控制各运动部件运动，根据测量频率控制信号接收装置接收接收天线的信号并存储。

2.根据权利要求1所述的微波暗室性能测量方法，其特征在于：所述的发射天线台架包括竖直的发射天线升降直轨，发射天线升降直轨的顶部设有发射天线旋转台，发射天线设置在发射天线旋转台的旋转面上；接收天线台架包括水平的接收天线平移直轨和竖直的接收天线升降直轨，接收天线升降直轨的顶部设有接收天线旋转台，接收天线设置在接收天线旋转台的旋转面上；竖直的接收天线升降直轨整体在接收天线平移直轨上运动；所述的运动部件包括发射天线升降直轨、接收天线平移直轨、接收天线升降直轨、发射天线旋转台和接收天线旋转台；所述的激光测距传感器设置在各直轨两端。

3.根据权利要求2所述的微波暗室性能测量方法，其特征在于：所述的接收天线平移直轨包括至少2根相互平行的运动直轨，记为y方向运动直轨，在y方向运动直轨上架设有与其垂直的至少2根相互平行的运动直轨，记为x方向运动直轨，在x方向运动直轨上架设有运动平台，运动平台可沿x方向运动直轨运动，且运动平台可随x方向运动直轨沿y方向运动直轨运动，x方向运动直轨和y方向运动直轨均设在水平面上，所述的接收天线升降直轨底端与运动平台固定连接。

4.根据权利要求1至3中任意一项所述的微波暗室性能测量方法，其特征在于：所述的测试台架采用MC尼龙材料制成。

5.根据权利要求3中任意一项所述的微波暗室性能测量方法，其特征在于：所述的y方向运动直轨和x方向运动直轨的两端各设有限位保护开关，限位保护开关由处理器控制。