[发明专利]一种日照温差采集样本概率密度的测定方法

说明书

技术领域

本发明涉及一种日照温差采集样本参数的测定方法，具体来说，涉及一种日照温差采集样本概率密度的测定方法。

背景技术

日照温差作为重要气候环境因素之一，其采集样本的概率统计特性在我国农业科学、生物科学、环境科学、建筑科学等重要领域的研究中均有所涉及，且其采集样本的概率统计特性在各学科领域中普遍采用概率密度表示^[1-5]，例如，肖建庄等人以上海市气象档案馆提供的1973年~2002年三十年每年6~8月的最大气温日温差为样本，建立样本的概率密度直方图并以此进行曲线拟合，经χ²检验拟合曲线接近极值I型分布，并进一步确定了具有一定重现期的日温差代表值；雷笑等人对一座具有100mm沥青铺装层的预应力混凝土梁桥箱梁进行了为期2年的温度观测，并以冬季最大日温差作为随机变量，采用假设检验和参数分析的方法认为此随机变量服从参数为W(3.958,2.7207)的Weibull分布，并基于此计算出了冬季日温差最大值。因此，对于日照温差采集样本概率密度参数的测定方法研究，具有十分重要的意义。

目前，各学科领域对于日照温差采集样本概率密度参数的测定，共有以下几种方法：①假设检验和参数分析法：此法需要事先假定采集样本的概率密度服从某一分布，并通过样本确定分布参数，最后借助检验方法进行分布验证，此方法需要一定的经验基础，可行性较差；②概率密度直方图法：此法首先建立采集样本的概率密度直方图，并对直方图进行曲线拟合，最后借助检验方法确定最接近拟合曲线的分布参数，此方法由于不同的温度区间划分会导致不同形状的概率密度直方图，使得分布参数不具有唯一性和准确性；③概率统计工具箱法：此法直接将采集样本导入概率统计工具箱中，利用工具箱中的分布函数对采集样本一一分析，并从中找出最佳分布参数，此法受到概率统计工具箱中分布函数的限制，适用性不强。因此，对于日照温差采集样本概率密度参数的测定，有必要研究一种可行性好、准确性高、适用性强的技术方法。

发明内容

技术问题：本发明所要解决的技术问题是：提供一种日照温差采集样本概率密度的测定方法，该测定方法可以准确测定日照温差采集样本的概率密度。

技术方案：为解决上述技术问题，本发明采用的一种日照温差采集样本概率密度的测定方法，该测定方法包括如下步骤：

步骤10）：确定日照温差采集样本：将多个温度传感器配接到同一个温度采集系统中，多个温度传感器对不同测点的日照温度同时进行采集，获取不同测点的日照温度采集样本，对其中两个测点的日照温度采集样本在同一时刻的温度值相减，得到日照温差采集样本，日照温差采集样本包含不同时刻对应的温差值；

步骤20）：确定正温差样本和负温差样本：对步骤10）得到日照温差采集样本，温差值大于或等于0℃的为正温差值，正温差值对应的样本作为正温差样本，温差值小于0℃的为负温差值，负温差值对应的样本作为负温差样本；

步骤30）：确定正温差样本和负温差样本中各温差值对应的累加概率值：

利用式（1）对正温差样本的累加分布特性进行分析，确定正温差样本中各温差值对应的累加概率值；

P(T+≤t+)=q1(T+≤t+)l1---(1)]]>