[发明专利]发光元件驱动装置

说明书

技术领域

本发明涉及对作为发光元件的LED（发光二极管）进行驱动的发光元件驱动装置。

背景技术

公开有如下所述的技术：在将串联连接多个LED而成的发光元件列并联连接多列，通过分别与各个发光元件列串联连接的恒流驱动器对多列发光元件列进行驱动的发光元件驱动装置中，将施加在多个恒流驱动器上的电压内的最低的电压选择为检测电压，以该检测电压的值成为基准电压的方式，自动地对电源装置的输出电压进行控制（例如，参照专利文献1）。

【专利文献1】日本特开2003-332624号公报

但是，在现有技术中，需要将施加在多个恒流驱动器上的电压内的最低的电压设定为在发光元件系列上流过发光所需电流的充分的电压。因此，在多个恒流驱动器上施加必要以上的电压，存在在恒流驱动器上产生功率损耗的问题。

发明内容

本发明的目的在于，鉴于上述问题解决现有技术的上述问题，提供能够减少对发光元件系列进行闪烁驱动的开关元件中的功率丧失的发光元件驱动装置。

本发明的发光元件驱动装置，其通过与多个发光元件列分别串联连接而成的开关元件对并联连接的多个所述发光元件列进行闪烁驱动，该发光元件驱动装置的特征在于具有：电流检测单元，其将分别流过多个所述发光元件列的电流分别检测为发光元件列电流；选择单元，其选择该电流检测单元检测的检测结果中的最小的所述发光元件列电流；以及输出电压控制单元，其对供给到多个所述发光元件列的输出电压进行控制，使得通过该选择单元选择的所述发光元件列电流成为预先设定的基准电流值。

而且，在本发明的发光元件驱动装置中，也可以具有平均电流控制单元，该平均电流控制单元分别控制对多个所述开关元件进行接通/断开驱动的占空比，使得通过所述电流检测单元检测的多个所述发光元件列电流的平均值成为相同的值。

而且，在本发明的发光元件驱动装置中，所述输出电压控制单元也可以在接通驱动了多个所述开关元件中的至少任意一个的开关元件接通期间，根据所述发光元件列电流控制所述输出电压，在断开驱动了多个所述开关元件的全部的开关元件断开期间，根据紧前的所述开关元件接通期间的所述发光元件列电流控制所述输出电压。

而且，在本发明的发光元件驱动装置中，所述输出电压控制单元也可以生成与通过所述选择单元选择的所述发光元件列电流相关的基准电压，根据该基准电压反馈控制所述输出电压。

根据本发明，由于构成为对供给到多个发光元件列的输出电压进行控制，使得分别流过多个发光元件列的电流中最小的发光元件列电流成为预先设定的基准电流值，因此不需要为了使发光元件系列闪烁驱动而使用恒流驱动器，起到能够减少对发光元件系列进行闪烁驱动的开关元件中的功率丧失的效果。

附图说明

图1是示出本发明的发光元件驱动装置的实施方式的电路结构的电路结构图。

图2是示出图1所示的选择电路的电路结构的电路结构图。

图3是示出图1所示的平均电流控制电路的电路结构的电路结构图。

图4是示出图1所示的输出电压控制电路的电路结构的电路结构图。

图5是示出图1所示的输出电压控制电路的其他电路结构的电路结构图。

符号说明

1发光部

2电源装置

3控制装置

11～13发光元件列

L1扼流线圈

4选择电路

5平均电流控制电路

6输出电压控制电路

C1平滑电容器

D1二极管

CC1恒流源

R1～R5电阻

Q1～Q4MOSFET

Q10、Q12、Q14、Q16～Q18P型MOSFET

Q11、Q13、Q15、Q19N型MOSFET

51振荡电路

52a～52c检测电路

53a～53c积分电路

54a～54c触发电路

55a～55c驱动电路

56或电路

61OTA（运算跨导放大器）误差放大电路

62采样和保持电路

63误差放大电路

64、65控制电路

具体实施方式

参照图1，本实施方式的发光元件驱动装置具有：发光部1；向发光部1供给输出电压Vout的电源装置2；以及进行供给到发光部1的输出电压Vout的控制和发光部1的亮灯控制的控制装置3。