[发明专利]一种压电晶片谐振频率测定方法有效
| 申请号： | 201210527953.4 | 申请日： | 2012-12-10 |
| 公开（公告）号： | CN103063292A | 公开（公告）日： | 2013-04-24 |
| 发明（设计）人： | 张昭;肖迎春;李闵行;白玮;杜振华;郭佳;王倩 | 申请（专利权）人： | 中国飞机强度研究所 |
| 主分类号： | G01H11/06 | 分类号： | G01H11/06 |
| 代理公司： | 中国航空专利中心 11008 | 代理人： | 杜永保 |
| 地址： | 710065*** | 国省代码： | 陕西;61 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 压电 晶片 谐振 频率 测定 方法 | ||
【权利要求书】：
1.一种压电晶片谐振频率测定方法，其特征在于，包括以下步骤：
对压电晶片进行短时高压脉冲激励的步骤：短时高压脉冲的脉冲宽度τ通过公式（1）确定，激励最大电压在200-450V之间；
其中，Nf为压电晶片振动模方向的频率常数，l为振动模方向的尺寸；
记录压电晶片响应振动信号的步骤：采用示波器或高速数采系统进行记录；
分析计算压电晶片谐振频率的步骤：首先计算相邻两个波峰之间的时间间隔Δt，也即第一波峰与第二波峰、第二波峰与第三波峰、第三波峰与第四波峰之间的时间间隔Δt，然后再根据Δt计算该振动模方向的谐振频率，计算方法如式（2）；
2.根据权利要求1所述的一种压电晶片谐振频率测定方法，其特征在于，对于高频的模振动谐振频率，直接利用公式（2）进行计算；对于低频的模谐振频率，计算Δt时，以跳过高频振动部分波形之后的波峰为第一波峰，再利用公式（2）进行计算。
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