[发明专利]一种基于自适应光学的激光衍射线扫描共焦检眼镜系统有效

专利信息
申请号: 201210523966.4 申请日: 2012-12-08
公开(公告)号: CN102973241A 公开(公告)日: 2013-03-20
发明(设计)人: 何益;史国华;张雨东 申请(专利权)人: 中国科学院光电技术研究所
主分类号: A61B3/14 分类号: A61B3/14;A61B3/12
代理公司: 北京科迪生专利代理有限责任公司 11251 代理人: 成金玉
地址: 610209 *** 国省代码: 四川;51
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摘要:
搜索关键词: 一种 基于 自适应 光学 激光 衍射 扫描 共焦检 眼镜 系统
【说明书】:

技术领域

本发明是一种基于自适应光学的激光衍射线扫描共焦检眼镜系统,涉及自适应波前探测与校正技术领域,属于人眼视网膜成像医疗设备制造技术领域。

背景技术

中国专利“一种基于激光衍射的线扫描共焦检眼镜系统和方法”授权号ZL201010595587.7中,介绍了一种基于激光衍射的线扫描共焦检眼镜系统,包括线光束生成模块、分光模块、扫描模块、成像模块以及输出模块。该系统利用光栅和柱面透镜将平行光束变换为线光束,使得生成的线光束光强为非高斯型的均匀分布,采用一片扫描振镜对线光束进行一维空间扫描照明眼底视网膜,同时使用线探测器对从眼底视网膜反射回的非扫描线光束成像,系统仅使用一个扫描振镜和一个线探测器,活动部件数目少;同时,共焦狭缝和眼底视网膜平面共轭,排除了非视网膜平面杂散光对成像质量的影响,实现了共焦成像原理的高分辨率。本发明具有线光束质量好、系统结构简单、制造简便、光路短适宜调节、小巧适用、稳定性好以及高成像帧频的优点。但是,作为检眼镜光学系统重要组成部分的人眼本身并不是一个完美的光学系统,它给成像系统带来各种像差,严重降低成像质量,使得实际系统获取的图像分辨率往往较低,从而很难观测到活体人眼视网膜的精细结构。

自适应光学技术是国外70年代才开始发展起来的光学新技术,它通过实时探测-控制-校正光学系统的动态波前误差,使光学系统具有自动适应外界条件变化从而始终保持最佳工作状态的能力,能够实时地对动态像差进行校正,从而大大提高了成像分辨率。将自适应光学技术应用于人眼成像,可以校正时间和空间上都随机变化的活体人眼动态像差,从而能够实现对活体人眼视网膜的高分辨力成像。

发明内容

本发明的目的是克服上述已有技术的不足,改善激光衍射线扫描共焦检眼镜系统受人眼动态像差影响造成的分辨率不足,通过加入自适应光学技术对人眼波前像差进行实时探测与校正,从而提高线扫描共焦检眼镜系统的眼底视网膜图像质量。

本发明所述一种基于自适应光学的激光衍射线扫描共焦检眼镜系统,主要包括线光束生成模块、分光模块、扫描模块、成像模块、输出模块以及波前探测与校正模块,其特征在于:波前探测与校正模块包括信标、准直透镜、分束镜、波前探测器、波前校正器、波前处理机以及一系列缩束扩束元件组。所述信标发出光束经准直透镜准直扩束为平行光束,依次经过分束镜、缩束扩束元件组一、波前校正器、缩束扩束元件组二后从波前探测与校正模块出射,然后经扫描模块传播进入人眼,并在视网膜上汇聚成一个点,进入的光被人眼视网膜反射后,携带人眼像差信息,沿原路返回,通过分光模块偏转反射,经分束镜反射后,经缩束扩束元件组三进入波前探测器,波前探测器将接收到的人眼像差信息传递给波前处理机,波前处理机产生控制波前校正器的控制电压,并将控制电压传给波前校正器,实时地校正人眼像差,增加成像图像的分辨率和对比度。

所述信标可以是激光光源、或发光二极管、或超辐射发光二极管。

所述波前传感器可以是光栅剪切干涉波前传感器、哈特曼波前传感器、波前曲率传感器、外差点衍射干涉传感器或四棱锥波前传感器。

所述波前校正器可以是连续表面分立压电驱动变形镜、分立表面压电驱动变形镜、微电子机械系统分立表面变形镜、薄膜变形镜、双压电片变形镜或液晶空间光调制器。

所述波前处理机可以是模拟控制电路或数字计算机。

所述缩束扩束元件组可以是由两片透镜组成的透射式缩束扩束系统,或由两面球面反射镜组成的反射式缩束扩束系统。

所述分束镜可以是二向色分束平片或二向色分束棱镜。

本发明与现有技术相比具有如下优点:

将自适应光学技术引入激光衍射线扫描共焦检眼镜中,波前探测器实时探测人眼动态波前像差,波前像差经波前处理机处理后控制波前校正器对带有波前像差的入射波前进行实时校正,使得线探测器探测的波前为不含人眼像差的波前,从而获得比无像差校正能力的激光衍射线扫描共焦检眼镜更高分辨率和对比度的视网膜图像。

附图说明

图1为本发明一种基于自适应光学的激光衍射线扫描共焦检眼镜系统结构图;

图2为本发明一种基于自适应光学的激光衍射线扫描共焦检眼镜系统的光路示意图;

图3为本发明一种基于自适应光学的激光衍射线扫描共焦检眼镜系统的波前像差探测与校正流程图。

具体实施方案

下面结合附图及具体实施方式详细介绍本发明。

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