[发明专利]一种危险目标源尺寸光学测量方法及装置有效
申请号: | 201210521497.2 | 申请日: | 2012-12-07 |
公开(公告)号: | CN103017657A | 公开(公告)日: | 2013-04-03 |
发明(设计)人: | 程晋明;钱伟新;祁双喜;李泽仁;刘冬兵;王婉丽;彭其先 | 申请(专利权)人: | 中国工程物理研究院流体物理研究所 |
主分类号: | G01B11/00 | 分类号: | G01B11/00;G01B11/02 |
代理公司: | 成都九鼎天元知识产权代理有限公司 51214 | 代理人: | 徐宏;吴彦峰 |
地址: | 621000 四*** | 国省代码: | 四川;51 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 危险 目标 尺寸 光学 测量方法 装置 | ||
1.一种危险目标源尺寸光学测量方法及装置,其特征在于包括
步骤1:通过发射两束平行激光到危险目标源表面形成两个激光光斑,光学测量装置测量其端面到危险目标源表面的距离L1、L2,所述光学测量装置发射的两束平行激光之间距离为D,所述两束平行激光发射方向与光学测量装置光轴平行,则可根据公式(1)得出危险目标源与光学测量装置端面的夹角θ:
(1)
步骤2:危险目标源数字图像信号及照射在危险目标源表面的激光光斑信号通过光学测量装置发送至处理器进行存储显示;
步骤3:处理器通过获取所述采集的数字图像信号中两个激光光斑中心点之间的距离d以及测量数字图像信号危险目标源尺寸s,根据公式(2)计算实际危险目标源尺寸S:
(2)。
2.根据权利要求1所述的一种危险目标源尺寸光学测量方法,其特征在于所述步骤2中处理器存储显示危险目标源及照射在危险目标源表面的激光光斑数字图像信号后,对数字图像信号进行噪声抑制、图像梯度、边缘检测处理。
3.根据权利要求1所述的一种危险目标源尺寸光学测量方法,其特征在于所述步骤1之前还包括步骤0:触发器触发光学测量装置工作。
4.根据权利要求1至3之一所述的一种危险目标源尺寸光学测量方法,其特征在于所述光学测量装置包括图像采集装置、第一激光测距仪、第二激光测距仪,所述第一激光测距仪、第二激光测距仪分别与图像采集装置连接,并位于图像采集装置两侧;所述第一激光测距仪与第二激光测距仪光轴间的距离为D;所述第一激光测距仪测得第一激光测距仪端面至危险目标源表面的距离是L1;所述第二激光测距仪测得第二激光测距仪端面至危险目标源表面的距离是L2;所述第一激光测距仪端面、第二激光测距仪端面和图像采集装置端面位于同一平面;所述第一激光测距仪、第二激光测距仪发射激光方向与图像采集装置光轴平行,光学测量装置光轴指的是图像采集装置光轴,所述触发器分别触发光学测量装置中的图像采集装置、第一激光测距仪、第二激光测距仪同时工作。
5.根据权利要求4所述的一种危险目标源尺寸光学测量方法,其特征在于所述图像采集装置是ICCD摄像机,所述图像采集装置光轴指的就是ICCD摄像机的光轴。
6.根据权利要求1所述的一种危险目标源尺寸光学测量装置,其特征在于包括
光学测量装置,用于测量其相对于危险目标源的距离,并将获取的危险目标源数字图像信号及照射在危险目标源表面的激光光斑图像信号发送至处理器进行数据处理;
触发器,用于发送使能信号给光学测量装置,触发光学测量装置工作;
处理器,用于接收光学测量装置输出的图像信号按照所述测量方法进行图像处理计算危险目标源实际尺寸。
7.根据权利要求6所述的一种危险目标源尺寸光学测量装置,其特征在于所述光学测量装置包括图像采集装置、第一激光测距仪、第二激光测距仪,所述第一激光测距仪、第二激光测距仪分别与图像采集装置连接,并位于图像采集装置两侧;所述第一激光测距仪与第二激光测距仪光轴间的距离为D;所述第一激光测距仪测得第一激光测距仪端面至危险目标源表面的距离是L1;所述第二激光测距仪测得第二激光测距仪端面至危险目标源表面的距离是L2;所述第一激光测距仪端面、第二激光测距仪端面和图像采集装置端面位于同一平面;所述第一激光测距仪、第二激光测距仪发射激光方向与图像采集装置光轴平行,光学测量装置光轴指的是图像采集装置光轴,触发器分别触发光学测量装置中的图像采集装置、第一激光测距仪、第二激光测距仪同时工作。
8.根据权利要求7所述的一种危险目标源尺寸光学测量装置,其特征在于所述图像采集装置是ICCD摄像机,所述图像采集装置光轴指的就是ICCD摄像机的光轴。
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