[发明专利]一种提高亚波长谐振腔品质因数的方法无效
| 申请号： | 201210519694.0 | 申请日： | 2012-12-06 |
| 公开（公告）号： | CN103296373A | 公开（公告）日： | 2013-09-11 |
| 发明（设计）人： | 王红玲;张元敏;赵忠彪;张广韬 | 申请（专利权）人： | 许昌学院电气信息工程学院 |
| 主分类号： | H01P7/08 | 分类号： | H01P7/08;H01P11/00 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 461000 河南省许昌*** | 国省代码： | 河南;41 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 提高 波长 谐振腔 品质因数 方法 | ||
【权利要求书】：
1.一种提高亚波长谐振腔品质因数的方法，其特征在于，在基于微带线的单负材料异质结的中心处加载一个梳状线电感，所述单负材料异质结的中心处是指电单负材料和磁单负材料的界面处，所述梳状线电感一端和微带线的中心导带相联结，所述梳状线电感的另一端处于开路状态；在所述梳状线电感旁边加载一个开口谐振环，所述开口谐振环和所述梳状线电感发生耦合。
2.根据权利要求1所述的一种提高亚波长谐振腔品质因数的方法，其特征在于，所述开口谐振环与所述梳状线电感的距离较小，两者之间能够发生强耦合，所述开口谐振环要和微带线的中心导带保持一定的距离，使得两者之间不发生耦合或耦合极弱。
3.根据权利要求1所述的一种提高亚波长谐振腔品质因数的方法，其特征在于，所述开口谐振环是一个单环结构。
4.根据权利要求1所述的一种提高亚波长谐振腔品质因数的方法，其特征在于，所述开口谐振环是一个双环结构。
5.根据权利要求1所述的一种提高亚波长谐振腔品质因数的方法，其特征在于，所述开口谐振环的形状为矩形。
6.根据权利要求1所述的一种提高亚波长谐振腔品质因数的方法，其特征在于，所述开口谐振环的的开口位置是不固定的。
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