[发明专利]绝缘状态检测系统、绝缘状态检测方法及萤光显微镜系统

说明书

技术领域

本发明涉及一种绝缘状态检测系统、绝缘状态检测的方法及其萤光显微镜系统，特别是涉及一种仅利用内部电路即可达到检测绝缘状态的绝缘状态检测系统、绝缘状态检测的方法及其萤光显微镜系统。 

背景技术

随着科技的进步，现今已经发展出一种萤光显微镜系统中，其利用高功率及高亮度的发光二极管来做为萤光光源，以便能更清楚地观察到待测物质。但若使用高功率的发光二极管元件必定会产生高温。例如以LUMINUS 公司生产的编号CBT-90-G绿光发光二极管元件为例，其功率消耗约为75瓦，所以发光二极管元件运作时会产生高温，必需搭配散热模块才能将其温度降到产品许可的操作温度，以避免发光二极管元件损坏。且因为发光二极管元件本体是接电源的正极，而非负极，加上散热模块都是具有导电性的元件，如铜片、铝等导电金属，所以当发光二极管元件和散热模块结合时，需要加上绝缘层来隔绝，例如利用聚脂薄膜制成的绝缘片。在现有技术中利用绝缘层让发光二极管元件正极和散热模块上的铜片绝缘，再利用另一绝缘层将散热模块与基座绝缘，以达到绝缘的效果。 

但在现有技术中，当绝缘层失效时，会伴随系统电源短路或漏电的问题，让整个电子电路系统失效。如果能事先检测出绝缘片的失效，就能预先关闭发光二极管元件电源防止短路及漏电，并送出异常讯息以告知使用者。在现有技术中为了防止绝缘层失效的问题，一般是事先利用简单的数字三用电表来进行测量。但萤光显微镜系统等机电系统中多为是为封闭系统，且空间上多无法放置数字三用电表，而必须要拆除整个结构才能进行测量，对检测人员来说会造成极大的不便。 

因此，有必要发明一种新的绝缘状态检测系统、绝缘状态检测的方法及其萤光显微镜系统，以解决现有技术的缺失。 

发明内容

本发明的主要目的是提供一种绝缘状态检测系统，其具有仅利用内部电路即可达到检测绝缘状态的效果。 

本发明的另一主要目的是提供一种用于上述绝缘状态检测系统的绝缘状态检测的方法。 

本发明的又一主要目的是提供一种具有上述绝缘状态检测系统的其萤光显微镜系统。 

为实现上述的目的，本发明的绝缘状态检测系统用以检测待测装置内部的绝缘状态。待测装置包括发光二极管元件、散热模块及金属基座。发光二极管元件及散热模块之间具有第一绝缘层，散热模块及金属基座之间具有第二绝缘层。绝缘状态检测系统包括控制模块及检测回路。控制模块具有电压输出端及电压检测端。检测回路电性连接于电压输出端、电压检测端及散热模块，控制模块由电压输出端输出测试电压讯号以经由检测回路传输至散热模块，并自电压检测端接收回传电压讯号；其中控制模块判断回传电压讯号的电压值是否与测试电压讯号的电压值相同；若是，则控制模块判断第一绝缘层及第二绝缘层的状态正常。 

本发明的绝缘状态检测的方法包括以下步骤：自电压输出端以经由检测回路传输测试电压讯号至散热模块；自散热模块接收回传电压讯号；判断回传电压讯号的电压值是否与测试电压讯号的电压值相同；以及若是，则判断第一绝缘层及第二绝缘层的状态正常。 

本发明的萤光显微镜系统，包括萤光发光装置及绝缘状态检测系统。萤光发光装置包括发光二极管元件、散热模块、金属基座、第一绝缘层及第二绝缘层。发光二极管元件用以发出萤光光源讯号。散热模块用以让发光二极管元件散热。金属基座用以支撑散热模块。第一绝缘层设置于发光二极管元件及散热模块之间。第二绝缘层设置于散热模块及金属基座之间。绝缘状态检测系统电性连接于萤光发光装置。绝缘状态检测系统包括控制模块及检测回路。控制模块具有电压输出端及电压检测端。检测回路电性连接于电压输出端、电压检测端及散热模块，控制模块由电压输出端输出测试电压讯号以经由检测回路传输至散热模块，并自电压检测端接收回传电压讯号；其中控 制模块判断回传电压讯号的电压值是否与测试电压讯号的电压值相同；若是，则控制模块判断第一绝缘层及第二绝缘层的状态正常。 

附图说明

图1是本发明的萤光显微镜系统及其具有的绝缘状态检测系统的架构图。 

图2A-2B是本发明的绝缘状态检测的方法的步骤流程图。 

附图符号说明 

萤光显微镜系统1 

绝缘状态检测系统10 

控制模块11 

电压输出端111 

电压检测端112 

电源控制端113 

检测回路12 

萤光发光装置20 

发光二极管元件21 

散热模块22 

金属基座23