[发明专利]一种带放大镜的测试探针

说明书

技术领域

本发明涉及一种电子产品测试探针，特别涉及一种带放大镜的测试探针。

背景技术

对电子产品的性能测试中，如果发现有参数异常，则需要在器件内部进行测试以寻找具体故障所在，在内部测试中，由于空间所限，探针是必须用到的工具。一般的使用过程是，将电子产品置于放大镜或者显微镜之下，然后在显微镜下操作，将探针针头扎在需要测试的区域。然而，某些电子产品本身比较大，难以放到放大镜或显微镜下，这样就无法测试，完全靠肉眼扎针，非常容易扎错。

发明内容

为了克服上述现有技术的不足，本发明的目的在于提供一种带放大镜的测试探针。

为了实现上述目的，本发明采用的技术方案是：

一种带放大镜的测试探针，包括测试探针1，测试探针1的针尾连接有测试导线3，在测试探针1的针身5上用螺栓4连接带有放大镜2的放大镜框架，放大镜2向与测试探针1的针头倾斜。

所述放大镜2在放大镜框架中通过水平转轴连接，并能够沿该水平转轴在垂直方向上转动。 

与现有技术相比，本发明将放大镜安装在探针上，能够在测试较大电子产品时直接用该放大镜观察测试扎点，给产品测试排障带来了很大的便利。

附图说明

附图为本发明的结构示意图。

具体实施方式

下面结合附图和实施例对本发明进行更详尽的说明。

如图所示，本发明为一种带放大镜的测试探针，包括测试探针1，测试探针1的针尾连接有测试导线3，在测试探针1的针身5上用螺栓4连接带有放大镜2的放大镜框架，放大镜2向与测试探针1的针头倾斜。放大镜2在放大镜框架中通过水平转轴连接，并能够沿该水平转轴在垂直方向上转动。 

为实现上述安装方案，测试探针1的针身5是一个比较粗的套管，其上带有滑槽，能够让放大镜框架在其上滑动。

使用时，通过滑动，先调整放大镜框架的高低位置，调整之后用螺栓4固定，然后转动放大镜2，调整倾斜度，达到最佳观察视角和放大程度。然后在放大镜2下将针头扎在待测区域，实现精确扎点。