[发明专利]检测装置和方法、电力接收装置及非接触式电力传输系统有效

专利信息
申请号: 201210484433.X 申请日: 2012-11-23
公开(公告)号: CN103135138B 公开(公告)日: 2017-06-09
发明(设计)人: 文仙启吾;中野裕章;村上知伦;福田伸一 申请(专利权)人: 索尼公司
主分类号: G01V3/10 分类号: G01V3/10;G01R27/26;H02J50/60;H02J50/12
代理公司: 北京信慧永光知识产权代理有限责任公司11290 代理人: 陈桂香,褚海英
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 检测 装置 方法 电力 接收 接触 传输 系统
【权利要求书】:

1.一种检测装置,包括:

线圈,所述线圈被配置为电磁耦合到外部线圈;

谐振电路,所述谐振电路被配置为包括至少所述线圈;以及

检测部,所述检测部被配置为将用于测量所述谐振电路的Q因数的测量信号叠加在以非接触方式传输到所述线圈的电力发送信号上,并且从通过将所述测量信号叠加在所述电力发送信号上而获得的交流信号中去除所述电力发送信号,所述检测部通过使用从中去除了所述电力发送信号的交流信号来测量所述Q因数。

2.根据权利要求1所述的检测装置,其中

所述电力发送信号是具有第一频率的交流信号,并且所述测量信号是具有与第一频率不同的第二频率的交流信号。

3.根据权利要求2所述的检测装置,其中

所述检测部包括

谐振频率调整器,所述谐振频率调整器连接到所述谐振电路并且用于将所述谐振电路的谐振频率从所述第一频率改变为所述第二频率,

第一频率去除器,所述第一频率去除器不允许所述具有第一频率的交流信号通过,并且至少允许所述具有第二频率的交流信号通过,以及

Q因数测量部,所述Q因数测量部通过使用已经经过所述第一频率去除器并且包括所述测量信号的交流信号来计算所述Q因数。

4.根据权利要求3所述的检测装置,还包括

分离器,所述分离器被配置为连接到相对于所述谐振电路位于至少所述线圈的相反侧的负载被连接到的那一侧,并且当所述检测部测量所述Q因数时将所述负载与所述谐振电路电分离。

5.根据权利要求4所述的检测装置,还包括

蓄电部,所述蓄电部被配置为通过使用由所述线圈从所述外部线圈接收的电力发送信号而被至少充有在所述检测部的Q因数的测量过程中所消耗的电力,

其中所述检测部通过使用在所述谐振电路与所述负载之间的连接被切断时的时段内在所述蓄电部中储存的电力来测量Q因数。

6.根据权利要求3所述的检测装置,还包括

第二频率去除器,所述第二频率去除器被配置为连接到相对于所述谐振电路位于至少所述线圈的相反侧的负载被连接到的那一侧,并且允许所述具有第一频率的交流信号通过,所述第二频率去除器至少不允许所述具有第二频率的交流信号通过。

7.根据权利要求3所述的检测装置,其中

所述谐振频率调整器至少包括电容器或线圈,并且被连接在所述谐振电路与所述第一频率去除器之间。

8.根据权利要求3所述的检测装置,还包括

确定部,所述确定部被配置为将由所述Q因数测量部获得的Q因数与预先设置的参考值相比较,以确定所述线圈与所述外部线圈之间的电磁耦合的状态。

9.根据权利要求8所述的检测装置,其中

所述线圈与所述外部线圈之间的电磁耦合的状态为是否存在在所述线圈附近的导体或者包括任何线圈的电路。

10.根据权利要求3所述的检测装置,其中

所述Q因数测量部从已通过所述第一频率去除器的交流信号来获取在构成所述谐振电路的线圈和所述谐振频率调整器的两端之间施加的第一电压以及在所述线圈的两端之间施加的第二电压,并且根据所述第一电压与所述第二电压之间的比率来计算所述Q因数。

11.根据权利要求3所述的检测装置,其中

所述Q因数测量部通过使用从与包括至少所述线圈的串联谐振电路在谐振频率时的阻抗绝对值的倍相对应的频带获得Q因数的半宽方法来计算所述Q因数。

12.根据权利要求3所述的检测装置,其中

所述Q因数测量部通过使用从与包括至少所述线圈的并联谐振电路在谐振频率时的阻抗绝对值的倍相对应的频带获得Q因数的半宽方法来计算所述Q因数。

13.根据权利要求3所述的检测装置,还包括

通信部,所述通信部被配置为将由所述检测部测量的所述Q因数发送到所述电力发送信号的电力发送侧。

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