[发明专利]X光平板侦测装置有效

专利信息
申请号: 201210480638.0 申请日: 2012-11-23
公开(公告)号: CN103829959A 公开(公告)日: 2014-06-04
发明(设计)人: 吴智濠 申请(专利权)人: 群康科技(深圳)有限公司;奇美电子股份有限公司
主分类号: A61B6/00 分类号: A61B6/00
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人: 汤保平
地址: 518109 广东省深圳市*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 平板 侦测 装置
【说明书】:

技术领域

发明是关于一种X光平板侦测装置,通过改良内部结构,以减少装置内的光反射次数,达到改善影像侦测的精确度的功效。

背景技术

X光平板侦测装置(X-ray flat panel detector)是一种侦测X光数字影像的装置,可应用于一般X光摄影、乳房X光摄影或心血管影像摄影等,相较于传统底片摄影,具有较好的影像质量、简单作业程序以及直接式数字影像的优点。

一般X光平板侦测装置是通过闪烁层(Scintillator)将X光A转换为可见光(如闪烁层内的箭头所示),再通过光电感测层以及薄膜晶体管层将可见光信号转换为电信号,进而转换为数字影像。由于光电感测层是由光电感测元件阵列排列形成,其间隙可见薄膜晶体管层的金属导线的布设,以俯视角度观察光电感测层,估计约有65%的面积排列为光电感测元件,然约有25%的面积为薄膜晶体管层的金属导线。当经由闪烁层转换的可见光发散到金属导线时,可见光会由此金属导线反射,并通过一反射层将其反射回光电感测层。然而,若转换后的可见光经历太多次反射,则所侦测到的影像将会因光线的过度偏移而失去准确性。

有鉴于此,目前亟需研发一种能够降低闪烁层内可见光反射次数的X光平板侦测装置,以提高侦测影像的锐利度以及正确性。

发明内容

本发明的主要目的是在提供一种X光影像侦测装置,以便能通过降低闪烁层中可见光的反射次数以提高侦测影像的精确度及锐利度(sharpness)。

为达成上述目的,本发明是提供一种X光平板侦测装置,包括:一薄膜晶体管基板;一光电感测层,是位于薄膜晶体管基板上且与其电性连接,其中此光电感测层是包含多个光电感测元件以及多个吸光元件,且所述吸光元件可具有一吸光材质,且可形成于所述光电感测元件彼此间的间隙;一闪烁层,是位于上述光电感测层上;以及一反射层,是设置于闪烁层上。

上述的X光平板侦测装置可于反射层上还包含一碳纤维层,由此不干扰X光穿透至闪烁层,并能够吸收可见光。除上述态样外,当碳纤维层设置于反射层情况下,本发明的X光平板侦测装置中的反射层可为一反射阵列层,其中反射阵列层可包含多个反射区块,且反射区块的设置位置是投影对应于光电感测层的光电感测元件的设置位置。当由闪烁层转换的可见光发散至反射区块间的间隙时,其能被碳纤维层吸收而避免再次反射,由此达到较佳的影像精确度。

再者,除上述态样外,本发明更提供一种X光平板侦测装置,包括:一薄膜晶体管基板;一光电感测层,是位于薄膜晶体管基板上且与其电性连接,且此光电感测层是包含多个光电感测元件;一微透镜阵列层,是位于该光电感测层上,其中此微透镜阵列层包含多个微透镜;一闪烁层,是位于微透镜阵列层上;以及一反射层,是设置于闪烁层上。

上述态样的X光平板侦测装置可于微透镜阵列层上更设置一第一透光层。

除此之外,于微透镜阵列层及第一透光层间还可包含一第二透光层,且第二透光层的折射率是大于第一透光层的折射率,由此更提高或辅助提高聚光效果。

附图说明

为了详细说明本发明的结构、特征及功效所在,以下列举较佳实施例并配合下列附图说明如后,其中:

图1是本发明实施例的X光平板侦测装置剖面示意图。

图2是本发明实施例的X光平板侦测装置的立体图。

图3是本发明实施例的X光平板侦测装置剖面示意图。

图4是本发明实施例的X光平板侦测装置的立体图。

图5是本发明实施例的X光平板侦测装置的示意图。

图6是本发明实施例的X光平板侦测装置剖面示意图。

图7是图6的局部放大示意图。

图8是本发明实施例的X光平板侦测装置剖面部分示意图。

图9是本发明实施例的X光平板侦测装置剖面部分示意图。

具体实施方式

以下是通过具体实施例说明本发明的实施方式,熟习此技艺的人士可由本说明书所揭示的内容轻易地了解本发明的其他优点与功效。此外,本发明亦可通过其他不同具体实施例加以施行或应用,在不悖离本发明的精神下进行各种修饰与变更。

请参考图1及图2,图1是本发明实施例的X光平板侦测装置剖面示意图;图2是本发明实施例的X光平板侦测装置的立体图。

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