[发明专利]半导体器件的开发支持设备和开发支持方法有效
申请号: | 201210459381.0 | 申请日: | 2012-11-15 |
公开(公告)号: | CN103106293A | 公开(公告)日: | 2013-05-15 |
发明(设计)人: | 清水裕司 | 申请(专利权)人: | 瑞萨电子株式会社 |
主分类号: | G06F17/50 | 分类号: | G06F17/50 |
代理公司: | 中原信达知识产权代理有限责任公司 11219 | 代理人: | 李兰;孙志湧 |
地址: | 日本神*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 半导体器件 开发 支持 设备 方法 | ||
相关申请的交叉引用
2011年11月15日提交的日本专利申请No.2011-250101的公开,包括说明书、附图和摘要,以其全部通过引用的方式结合在本文中。
技术领域
本发明涉及一种半导体器件的开发支持设备、开发支持方法和开发支持程序产品,并且更具体地,涉及一种具有模拟前端电路的半导体器件的开发支持设备、开发支持方法和开发支持程序产品。
背景技术
近年来,由于使用者友好性、生态系统的延伸、卫生保健的渗透和安全性的增强,所以越来越多地在包括公共福利、工业和医疗护理中的各种设备上安装传感器。作为其背景,可以列举的是已经发展了用作传感器器件的便利性的提高,以为实现传感器而不可避免的低电压和低功率操作,因此系统的小型化和成本的降低已经成为可能。存在多种传感器,诸如温度传感器、红外传感器、光学传感器和碰撞传感器,并且一般根据它们的操作原理中的每一个形成用于处理传感器信号的电路并且设置其特性。
在这种设备中,微型计算机的控制单元根据传感器的测量结果执行控制处理。实际上,由于从传感器输出的测量信号不能在微型计算机的控制单元中处理,所以该信号被模拟前端(AFE)电路放大到恒定水平并且在被输入到微型计算机之前经受诸如消除噪音的模拟前端处理。由于该模拟前端处理需要与传感器的操作原理和特性匹配的设计并且要求模拟电路特有的设计技能,通常,在缩小被设定为目标的传感器的操作原理和特性之后,开发用于特定传感器的专用AFE(模拟前端)电路和专用IC。
作为常规的AFE电路,例如,已知日本未审查专利公开No.平10(1998)-320684。图55示出了在日本未审查专利公开No.平10(1998)-320684中描述的常规电路配置。该常规电路包括传感器903、作为模拟前端电路的模拟输入电路911和微型计算机910。
模拟输入电路911具有用于输入来自传感器的信号的变压器、用于仅通过特定频率的信号成分的滤波器921、用于放大滤波器921的输出的放大器电路922、用于将放大器电路922的输出A/D转换的A/D转换器923、以及用于将放大器电路922的输出与基准电压比较的比较器电路924。
微型计算机910处理从A/D转换器923输出的数字信号,并且根据传感器903的检测执行处理。此外,微型计算机910将控制信号输出至滤波器921以改变滤波器921的频率特性。
发明内容
由此,常规技术使得能够通过来自微型计算机910的控制来改变模拟输入电路911的滤波器921的特性。另一方面,如上所述,近年来承载传感器的传感器系统的数量逐渐增加,并且希望在短时间内开发模拟电路的半导体器件,以及时地投放市场。
然而,由于存在多种传感器,诸如温度传感器、红外传感器、光学传感器和碰撞传感器,并且需要根据传感器来准备不同的电路配置和电路特性,所以难以在短时间内开发对应于多种传感器的半导体器件。
因此,常规技术存在难以容易地开发半导体器件的问题。
根据本发明的半导体器件的开发支持设备是如下的一种半导体器件的开发支持设备,该半导体器件具有用于输入传感器的测量信号的模拟前端单元和用于根据通过模拟前端单元的测量信号执行控制处理的控制单元,该开发支持设备包括:GUI显示单元,用于显示与模拟前端单元的电路配置对应的GUI;设定信息产生单元,用于基于使用者的GUI操作产生模拟前端单元的电路配置和电路特性;以及设定单元,用于通过控制单元在模拟前端单元中设置产生的设定信息。
根据本发明的半导体器件的开发支持方法是如下的一种半导体器件的开发支持方法,该半导体器件具有用于输入传感器的测量信号的模拟前端单元和用于根据通过模拟前端单元的测量信号执行控制处理的控制单元,并且具有以下步骤:显示与模拟前端单元的电路配置对应的GUI;基于使用者的GUI操作产生用于设置模拟前端单元的电路配置和电路特性的设定信息;以及通过控制单元在模拟前端单元中设置产生的设定信息。
根据本发明的存储半导体器件的开发支持程序的计算机可读介质是一种半导体器件的开发支持程序产品,其使得计算机执行该半导体器件的开发支持处理,该半导体器件具有用于输入传感器的测量信号的模拟前端单元和用于根据通过该模拟前端单元的该测量信号执行控制处理的控制单元,其中该半导体器件的该开发支持处理具有以下步骤:显示与该模拟前端单元的电路配置对应的GUI;基于使用者的GUI操作产生用于设置该模拟前端单元的电路配置和电路特性的设定信息;以及通过该控制单元在该模拟前端单元中设置产生的设定信息。
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