[发明专利]光信息记录、再现、记录再现装置及其方法

说明书

技术领域

本发明涉及使用全息图在光信息记录介质中记录信息、从光信息记录介质再现信息的光信息记录装置、光信息再现装置、光信息记录再现装置、光信息记录方法、光信息再现方法和光信息记录再现方法。

背景技术

现在，根据使用蓝紫色半导体激光器的Blu-ray Disc（TM）规格，在民用领域能够商品化具有50GB左右的记录密度的光盘。今后，光盘也要求100GB～1TB这样与HDD（Hard Disk Drive：硬盘驱动器）容量相同程度的大容量化。

但是，为了由光盘实现这样的超高密度，需要不同于基于短波长化和物镜高NA化的高密度化技术的新方式的高密度化技术。

在进行有关下一代存储技术的研究时，利用全息图记录数字信息的全息记录技术受到关注。

全息记录技术是，使具有用空间光调制器二维调制后的页数据的信息的信号光在记录介质的内部与参考光重合，根据此时生成的干涉条纹图案在记录介质内产生折射率调制，由此在记录介质中记录信息的技术。

再现信息时，对记录介质照射记录时使用的参考光，则记录介质中记录的全息图如衍射光栅一般地作用产生衍射光。该衍射光作为包括记录的信号光和相位信息的相同的光被再现。

再现的信号光被CMOS或CCD等光检测器二维地高速检测。这样，全息记录技术用一个全息图在光记录介质中一次记录二维的信息，进而能够再现该信息，然后，因为能够在记录介质的某个场所重叠写入多个页数据，所以能够实现大容量且高速的信息的记录再现。

如上所述的全息记录再现技术，例如有日本特开2010-61718号公报（专利文献1）。该公报中，对于“在光学装置中，光的波面在其光路中前进时因透镜等光学元件而变形。此外，在相互不同的光学装置之间，即使光学系统的配置相互相同，光的波面的变形方式也不同。从而，一般在全息记录装置与全息再现装置之间，参考光的波面形状也不同，因此在记录时和再现时之间，参考光不是相同的波面形状，再现数据的SNR（SN比）降低的问题”，记载了用“在参考光的光路中，配设检测该参考光的波面的光检测器、和调整该参考光的波面的波面控制器，在该波面控制器中，以由该光检测器检测到的参考光的波面形状成为对全息记录介质记录信号时的上述参考光的波面形状的方式进行调整的结构”解决的技术。

专利文献1：日本特开2010-61718号公报

发明内容

然而，专利文献1记载的方法中，记载了以使对介质入射的参考光的波面与记录时的参考光的波面一致的方式进行调整的方法，但实际上，存在波面因介质的变形等而紊乱的进一步的课题。

于是，本发明的目的在于提供一种能够进一步提高再现品质的波面像差检测方法和补偿方法。

上述目的例如可以通过分离参考光，对分离后的参考光之间的干涉进行计测而解决。

根据本发明，能够在全息图的记录再现处理中提高参考光波面检测精度，通过适当进行波面补偿能够改善再现性能。

附图说明

图1是表示光信息记录再现装置内的拾取器的实施例的概要图。

图2是表示光信息记录再现装置的实施例的概要图。

图3是表示光信息记录再现装置内的拾取器的实施例的概要图。

图4是表示光信息记录再现装置内的拾取器的实施例的概要图。

图5是表示光信息记录再现装置内的拾取器的实施例的概要图。

图6是表示光信息记录再现装置的动作流程的实施例的概要图。

图7是表示光信息记录再现装置内的信号生成电路的实施例的概要图。

图8是表示光信息记录再现装置内的信号处理电路的实施例的概要图。

图9是表示信号生成电路和信号处理电路的动作流程的实施例的概要图。

图10是表示通常再现时的拾取器内的光路的例子的概要图。

图11是表示调整动作时的拾取器内的光路的例子的概要图。

图12是表示波面像差检测电路的处理过程的实施例的概要图。

图13是表示补偿量计算电路的处理过程的实施例的概要图。

图14是表示记录动作时的拾取器的动作流程的实施例的概要图。

图15是表示再现动作时的拾取器的动作流程的实施例的概要图。

图16是表示光信息记录再现装置内的拾取器的实施例的概要图。

图17是表示光信息记录再现装置内的拾取器的实施例的概要图。

图18是表示光信息记录再现装置内的拾取器的实施例的概要图。