[发明专利]灯具抗磁场干扰的试验方法以及检测系统

说明书

技术领域

本发明涉及一种磁场干扰的试验方法以及检测系统，尤其涉及一种灯具抗磁场干扰的试验方法以及检测系统。

背景技术

随着各工业的迅速发展，照明也起到越来越重要的作用，照明灯具一般会包括光源以及对光源进行供电的电器部件，工业照明中比较常用的光源可为气体放电灯等等，常用的电器部件可包括电容、触发器、镇流器等等。由于灯具使用的场合较为广泛，故而灯具在使用的时候经常会遇到具有磁场干扰的环境，比如使用在电解铝厂房内部的灯具，由于厂房内的铝母线通大电流供电解使用，故而在铝母线周围产生磁场，磁场使钢结构磁化，也产生磁场，越接近钢结构，磁场越强，对灯具产生的干扰就会越为严重。然而，由于无法准确测试出灯具的抗磁场干扰能力，因此无法根据使用现场的磁场干扰情况选择适合的灯具，灯具选择不当时极易出现损坏几率高、可靠性降低、使用寿命缩短等情况，造成了维修成本的增加，带来了一定的经济损失。

发明内容

本发明的主要目的是为了解决现有技术所存在的无法准确测试出灯具的抗磁场干扰能力，因此无法根据使用现场的磁场干扰情况选择适合的灯具，极易出现灯具损坏几率高、可靠性降低、使用寿命缩短，故而造成了维修成本的增加，带来了一定的经济损失的技术问题。

为了解决上述技术问题，本发明提供一种灯具抗磁场干扰的检测方法，包括如下步骤：在保持待用磁铁形成的磁场方向与待测灯具光源形成的光弧方向始终相垂直的状态下，将磁铁从远离光源的位置逐渐向光源靠拢，当发现光源出现频闪或者熄灭现象时，采集光源相对磁铁的第一位置值，并根据第一位置值查找关于距离磁铁的位置与磁通密度值的对应关系表，获得与第一位置值对应的第一磁通密度值；在保持磁铁形成的磁场方向与光源形成的光弧方向始终相平行的状态下，将磁铁从远离光源的位置逐渐向光源靠拢，当发现光源出现频闪或者熄灭现象时，采集光源相对磁铁的第二位置值，并根据该第二位置值查找对应关系表获得与第二位置值对应的第二磁通密度值；在保持磁铁形成的磁场方向与电器部件表面始终相垂直的状态下，将磁铁从远离电器部件的位置逐渐向电器部件靠拢，当发现光源出现频闪或者熄灭现象时，采集电器部件相对磁铁的第三位置值，并根据该第三位置值查找对应关系表获得对应的第三磁通密度值；将的第一磁通密度值、第二磁通密度值以及第三磁通密度值进行比较，输出三者中的最小值。

优选地，磁通密度值通过高斯计测算。

优选地，所述方法还包括定标测试步骤，位于所述第一磁通密度值的获取步骤之前，包括：采用高斯计测量距离所述磁铁不同位置下的磁通密度值，形成距离磁铁的位置与磁通密度值的对应关系表。

本发明还提供一种灯具抗磁场干扰的检测系统，包括：用于存储距离磁铁的位置与磁通密度值的对应关系表的存储模块；用于固定待用磁铁的固定架；用于牵引固定架在保持待用磁铁形成的磁场方向与待测灯具光源形成的光弧方向相垂直或相平行的状态下向面向或背离待测灯具光源方向移动的牵引模块；用于采集待测灯具光源与磁铁直线间距的测量模块；用于根据测量模块的测量结果查找关于磁铁的位置与磁通密度值的对应关系表获得磁通密度值的查找计算模块；用于比较计算模块输出结果的比较模块。

优选地，检测系统还包括遥控开关模块，遥控开关模块的信号输出端连接测量模块的控制端，测量模块在接收到遥控开关模块输出的控制信号时采集待测灯具光源与磁铁直线间距。

本发明具有以下有益效果，本发明的灯具抗磁场干扰的试验方法以及检测系统通过在模拟磁场环境条件下，分别让磁场方向与光源光弧/电器部件方向相垂直或者相平行进行磁场干扰试验，从而能够得到灯具所能抵抗的最大磁通密度值，所以可根据灯具的最大磁通密度值以及安装现场的环境磁通密度值合理地选择适合的灯具，因此可减少灯具的损坏几率、提高灯具的可靠性、延长灯具使用寿命，从而降低了维修成本，减少了经济损失。

具体实施方式

为了进一步说明本发明的原理和结构，以下将对本发明的优选实施例进行详细说明。

本发明的灯具抗磁场干扰的试验方法，包括下述的步骤。

试验前需准备的材料包括：固定架、高斯计、磁铁、牵引模块、测量模块以及墨镜。本实施例中，测量模块为具有刻度值的导轨。

首先，通过高斯计测出磁铁周围距离所述磁铁不同位置下的磁通密度值，形成距离磁铁的位置与磁通密度值的对应关系表。