[发明专利]过零检测电路自动进行电压校正的方法及装置

说明书

技术领域

本发明涉及电子电路及自动化控制技术，具体的讲是涉及一种过零检测电路自动进行电压校正的方法及装置。

背景技术

过零检测的作用可以理解为给主芯片提供一个标准，这个标准的起点是零电压，可控硅导通角的大小就是依据这个标准。也就是说塑封电机高、中、低、微转速都对应一个导通角，而每个导通角的导通时间是从零电压开始计算的，导通时间不一样，导通角度的大小就不一样，因此电机的转速就不一样。

目前国内外在电压过零检测时，采用电压降到一定电压值时，默认为0，即认为这就是电压过零点，都没有考虑电压变化对电压过零点的影响，过零点都是在额定电压的情况下给一个固定的补偿，或者根本就无补偿，都不能自动进行过零点偏移校正，在外部电压变化时检测到的电压过零点与实际的电压过零点存在较大的误差。

发明内容

本发明所要解决的技术问题，就是针对目前的电压过零检测存在较大误差的问题，提供一种过零检测电路自动进行电压校正的方法及装置。

本发明解决上述技术问题所采用的技术方案是：过零检测电路自动进行电压校正的方法，其特征在于，包括以下步骤：

a.在进行电压过零检测的同时进行电压检测；

b.根据检测到的电压值通过和额定电压比较得出电压过零点的偏移值；

c.利用偏移值对检测到的过零点进行实时动态补偿校正。

具体的，对检测到的过零点进行实时动态补偿校正的具体方法为：

假设T为过零信号经过校正后的输出时间、t为检测到的过零信号时间、d为固定电路补偿参数、U_检为检测到的实时电压、U_标为固定标准电压，则有：

T=t+d*（2-U_检/U_标）。

用于过零检测电路自动进行电压校正的方法的装置，包括电压检测电路、过零检测电路和微处理器，所述电压检测电路和过零检测电路分别与微处理器连接。

具体的，所述微处理器为单片机。

本发明的有益效果为，能够实时对过零信号进行智能校正，达到对电压过零信号动态补偿校正，从而有效的提高过零控制信号的精确度。

附图说明

图1为本发明所述的过零检测电路自动进行电压校正的装置的逻辑框图。

具体实施方式

下面结合附图详细描述本发明的技术方案：

本发明所述的过零检测电路自动进行电压校正的方法，主要步骤为：首先在进行电压过零检测的同时进行电压检测，本步骤在传统的过零检测电路中增加一路电压检测电路，用于检测当前的电压值；然后根据检测到的电压值通过和额定电压比较得出电压过零点的偏移值，实现该步骤可通过为处理器实现，如通过MCU通过检测到的电压值计算出外部电压的有效值，然后和额定电压进行比较计算出电压过零点的偏移；最后利用偏移值对检测到的过零点进行实时动态补偿校正。本发明总的技术方案，主要为在进行过零检测的同时实时检测当前的外部电压，然后根据通过此时有效的外部电压和额定电压的比较，从而得出电压过零点的偏移值，实现对过零检测电路的实时动态补偿。

一种具体的对检测到的过零点进行实时动态补偿校正的具体方法为：

假设T为过零信号经过校正后的输出时间、t为检测到的过零信号时间、d为固定电路补偿参数、U_检为检测到的实时电压、U_标为固定标准电压，则有：

T=t+d*（2-U_检/U_标）。

用于过零检测电路自动进行电压校正的方法的装置，包括电压检测电路、过零检测电路和微处理器，所述电压检测电路和过零检测电路分别与微处理器连接。

具体的，所述微处理器为单片机。单片机作为常用的微处理器，其应用技术十分成熟，能够满足本发明所示方案的需求。

如图1所示，为一种具体的过零检测电路自动进行电压校正的装置的逻辑框图，其中，电压检测电路和过零检测电路均分别连接到MCU的引脚，并通过整流桥电路和外部电源连接。该电路的工作原理为：每当MCU上电后，MCU对输入的电压值进行检测，计算出外部电压的有效值，和额定电压进行比较，其中额定电压值存储在MCU的存储单元中，然后MCU计算出电压过零点的偏移，对过零检测电路的过零点进行实时动态补偿校正，得到准确的过零信号，最后输出经过智能校正的过零控制信号。