[发明专利]一种测试点异常的检测电路

说明书

技术领域

本发明属于电路检测领域，尤其涉及一种测试点异常的检测电路。

背景技术

在手机的生产过程中，由于测试点的污损、金属的氧化等因素会造成测试点的可靠性降低，使得手机在下载、校准以及综测的过程中失败，降低了生产过程中的直通率指标，而且不能有效地发现问题解决问题。同时出于成本的考虑，不同的工艺对应的成本以及可靠性都是不同的，如何在成本和性能中间做出最佳的选择是研发设计中面临的一大选择，因此就有必要提供一种检测电路可以有效地验证不同工艺下测试点的可靠性。

发明内容

本发明实施例的目的在于提供一种测试点异常的检测电路，其通过将测试点与发光二级管及测试探针构成一回路，检测发光二极管是否发光来解决上述的问题。

本发明实施例是这样实现的，一种测试点异常的检测电路，该检测电路包括有电源、与电源一端通过导线连接的多个测试点、在该电源与测试点之间通过导线连接的电阻及发光二极管及与电源另一端通过导线连接的多个测试探针，通过测试探针与测试点接触构成一回路时发光二极管是否发光来检测该测试点是否有异常。

在本发明实施例中，测试点异常的检测电路，其通过将测试点与发光二级管及测试探针构成一回路，若发光二极管发光则表示测试点无异常，反之，有异常，从而帮助用户快速发现有问题的测试点。

附图说明

图1为本发明第一实施例提供的测试点异常的检测电路图。

图2本发明第二实施例提供的测试点异常的检测电路图。

具体实施方式

为了使本发明的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本发明进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本发明，并不用于限定本发明。

作为本发明的一个实施例，图1示出了本发明实施例提供的测试点异常的检测电路图。该检测电路100包括有电源10、与电源10一端通过导线60连接的多个测试点40、在该电源10与测试点40之间通过导线60连接的电阻20及发光二极管30及与电源10另一端通过导线60连接的多个测试探针50，通过测试探针50与测试点40接触构成一回路时发光二极管30是否发光来检测该测试点40是否有异常。本实施方式中，所述的电源10为程控电源。所述程控电源提供3.8v左右的电源，1.9A左右的额定电流。所述发光二极管30是一种半导体固体发光器件。它是利用固体半导体芯片作为发光材料，在半导体中通过载流子发生复合放出过剩的能量而引起光子发射，直接发出红、黄、蓝、绿、青、橙、紫、白色的光，工作电流在2-30mA，工作电压在2-3.6V。所述电阻20包含贴片式和插件式，阻值范围10-900Ω。

本实施方式中，所述测试探针50的结构与测试点40的结构相匹配，测试探针50的数量与测试点40的数量相同，从而便于更好的对测试点40的异常进行检测。常用的测试点与测试探针的形状具体如下表1所示。